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TG-1028 光伏組件濕凍循環(huán)試驗(yàn)箱
- 公司名稱(chēng) 上海泰規(guī)檢測(cè)設(shè)備有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) TG-1028
- 產(chǎn)地 上海
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2022/11/16 16:50:02
- 訪問(wèn)次數(shù) 198
濕凍循環(huán)試驗(yàn)箱光伏組件濕熱循環(huán)箱光伏組件濕凍循環(huán)箱光伏組件濕凍試驗(yàn)機(jī)
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源 |
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TG-1028光伏組件濕凍循環(huán)試驗(yàn)箱設(shè)備介紹:
光伏組件濕凍循環(huán)試驗(yàn)箱主要用于太陽(yáng)能光伏行業(yè),針對(duì)晶體硅組件、薄膜光伏組件、聚光太陽(yáng)能等一系列的光伏產(chǎn)品以及原材料進(jìn)行溫度、濕度、循環(huán)試驗(yàn),等一系列的光伏組件進(jìn)行試驗(yàn)可以再現(xiàn)環(huán)境所產(chǎn)生的破壞,以評(píng)價(jià)其在一定的溫濕度條件下貯存和使用的適應(yīng)性。
TG-1028光伏組件濕凍循環(huán)試驗(yàn)箱適用標(biāo)準(zhǔn):
光伏組件濕熱循環(huán)試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)有:IEC 61646:2008、IEC 61215:2016、IEC 61730:2016、UL1703:2015、GB/T 9535:2006、GB/T18911:2002、IEEE1513、GB9535-2005等標(biāo)準(zhǔn)。
TG-1028光伏組件濕凍循環(huán)試驗(yàn)箱參數(shù)介紹:
TG-1028光伏組件濕凍循環(huán)試驗(yàn)箱相關(guān)規(guī)范資料介紹:
1:溫度循環(huán)測(cè)試
試驗(yàn)?zāi)康模捍_定組件于溫度重復(fù)變化時(shí),引起的疲勞和其它應(yīng)力的熱失效。
測(cè)試要求:
1、整個(gè)測(cè)試過(guò)程中紀(jì)錄模塊溫度,測(cè)量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃
2、整個(gè)測(cè)試過(guò)程中,監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器
3、監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性之儀器
4、監(jiān)測(cè)可能產(chǎn)生之任何開(kāi)路或接地失效(測(cè)試過(guò)程中無(wú)間歇開(kāi)路或接地失效)
溫度循環(huán)比較 | 低溫 | 高溫 | 溫變率 | 駐留時(shí)間 | 循環(huán)數(shù) |
IEC61215 | -40±2℃ | 85±2℃ | zui大100℃/h | zui少10min | 50、200 |
GB9535 | -40±2℃ | 85±2℃ | zui大100℃/h | zui少10min | 50、200 |
IEC61646 | -40±2℃ | 85±2℃ | zui大100℃/h | zui少10min | 50、200 |
GB18911 | -40±2℃ | 85±2℃ | zui大100℃/h | zui少10min | 50、200 |
UL1703 | -40±2℃ | 90±2℃ | zui大120℃/h | 30~105min | 200 |
IEC62108 | -40±2℃ | 65℃、85℃、110℃ | 10cycle/day | 10min | 500、1000、2000 |
IEC62108 | -40℃ | 65℃、85℃、110℃ | 18cycle/day | 10min | 500、1000、2000 |
IEEE1513 | -40℃ | 90℃、110℃ | 0.9~7.5℃/min | zui少10min | 250、500 |
IEEE1513 | -40℃ | 90℃、110℃ | zui大100℃/h | zui少10min | 100、200 |
IEEE1513 | -40℃ | 60℃、90℃ | zui大100℃/h | zui少10min | 50、200 |
2:濕冷凍測(cè)試
目的:確定組件承受高溫、高濕之后以及隨后的零下溫度影響的能力。
測(cè)試要求:
1、整個(gè)測(cè)試過(guò)程中紀(jì)錄模塊溫度,測(cè)量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃
2、整個(gè)測(cè)試過(guò)程中,監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器
3、監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性之儀器
4、 監(jiān)測(cè)可能產(chǎn)生之任何開(kāi)路或接地失效(測(cè)試過(guò)程中無(wú)間歇開(kāi)路或接地失效)
溫度循環(huán)比較 | 高溫高濕 | 低溫 | 溫變率 | 循環(huán)數(shù) |
IEC61215 | 85℃/85±5%(20h) | -40℃(0.5~4h) | 高溫升降溫(100℃/h) 低溫升降溫(200℃/h) | 10 |
GB9535 | 85℃/85±5%(20h) | -40℃(0.5~4h) | 高溫升降溫(100℃/h) 低溫升降溫(200℃/h) | 10 |
IEC61646 | 85℃/85±5%(20h) | -40℃(0.5~4h) | 高溫升降溫(100℃/h) 低溫升降溫(200℃/h) | 10 |
GB18911 | 85℃/85±5%(20h) | -40℃(0.5~4h) | 高溫升降溫(100℃/h) 低溫升降溫(200℃/h) | 10 |
UL1703 | 85℃/85±2.5%(20h) | -40℃(0.5~4h) | 高溫升降溫(120℃/h) 低溫升降溫(200℃/h) | 10 |
IEEE1513 | 85℃/85±2.5%(20h) | -40℃(0.5~4h) | 高溫升降溫(100℃/h) 低溫升降溫(200℃/h) | 20 |
IEC62108 | 85℃/85±2.5%(20h) | -40℃(0.5~4h) | 高溫升降溫(100℃/h) 低溫升降溫(200℃/h) | 20、40 |
3:濕熱測(cè)試
目的:確定模塊抵抗?jié)駳忾L(zhǎng)期滲透之能力。
試驗(yàn)條件:85 ±2 ℃/85 ±5%/1000h(IEC61646-10.13、GB18911-10.13、CNS15115-10.13)
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