1、儀器概述

XD-1000 鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀器。主要應用于：多金屬鍍層（鍍鎳、鍍鋅、鍍銅、鍍金、鍍銀等）的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

多鍍層檢測儀性能優(yōu)勢

精密的三維移動平臺

的樣品觀測系統(tǒng)

*圖像識別

輕松實現深槽樣品的檢測

四種微孔聚焦準直器，自動切換

雙重保護措施，實現無縫防撞

采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度

全自動智能控制方式，一鍵式操作!

開機自動退出自檢、復位

開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣

關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦

直接點擊全景或局部景圖像選取測試點

點擊軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示測試結果

多鍍層檢測儀技術指標

分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U）

同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層

檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm

分析含量：一般為2ppm到99.9%

鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%

穩(wěn)定性：可達0.1%

SDD探測器：分辨率低至135eV

采用*微孔準直技術，小孔徑達0.1mm，小光斑達0.1mm

樣品觀察：配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭

準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與

Ф0.3mm四種準直器組合

儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm

樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm

樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm

X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s

X/Y/Z平臺重復定位精度 ：小于0.1um

操作環(huán)境濕度：≤90%

操作環(huán)境溫度 15℃～30℃

4、測試實例

在保證計數率的情況下能有效分辨相近元素，大大提高測試穩(wěn)定性、降低檢測限。

某國外儀器檢測譜圖

11次測量結果（Au-Cu)的穩(wěn)定性數據對比如下：

次數        XD-1000        行業(yè)內其他儀器

1       0.042        0.0481

2       0.043        0.0459

3       0.043        0.0461

4       0.0412      0.0432

5       0.0429      0.0458

6       0.0436      0.0458

7       0.0427      0.0483

8       0.0425      0.045

9       0.0416      0.0455

10     0.0432      0.0485

11     0.0422      0.043

平均值   0.0425      0.0459

標準偏差        0.0007      0.0019

相對標準偏差        1.70%       4.03%

極差        0.0024      0.0055

1、儀器概述

    鍍層膜厚是電鍍產品的重要技術指標，關系到產品的質量以及生產成本。XD-1000鍍層測厚儀是喬邦集多年的經驗，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款膜厚測試儀器，配備移動平臺，可全自動軟件操作，并進行多點測試，檢測結果更加精準。

2、性能優(yōu)勢

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求

小φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自動定位測試高度

定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊

鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點

高分辨率探頭使分析結果更加精準

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳感器保護

3、技術指標

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層

一次可同時分析多達五層鍍層

薄可測試0.005μm

分析含量一般為2ppm到99.9%

鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）

任意多個可選擇的分析和識別模型

相互獨立的基體效應校正模型

多變量非線性回收程序

長期工作穩(wěn)定性高

度適應范圍為15℃至30℃

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源

儀器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm

重量：90 kg

4、測試實例

鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。

以下使用XD-1000儀器對銅鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度，七次的結果其標準偏差和相對標準偏差。且可在樣品上進行定位測試，其測試位置如圖。

銅鍍鎳件X射線熒光測試譜圖

樣 品 名        成分Ni(%)        鍍層Ni(um)

吊扣        100  19.321

吊扣2#    100  19.665

吊扣3#    100  18.846

吊扣4#    100  19.302

吊扣5#    100  18.971

吊扣6#    100  19.031

吊扣7#    100  19.146

平均值   100  19.18314

標準偏差        0       0.273409

相對標準偏差        0       1.425257

銅鍍鎳件測試值

結論

實驗表明，使用XD-1000儀器對鍍件膜厚測試，結果準確度高，速度快（幾十秒），其測試效果*可以和顯微鏡測試法媲美。