iEDX-150WT 金屬鍍層厚度分析儀
參考價(jià) | ¥ 200000 |
訂貨量 | ≥1臺 |
- 公司名稱 廣州鴻熙電子科技有限公司
- 品牌 ISP/韓國
- 型號 iEDX-150WT
- 產(chǎn)地 廣東
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2023/4/24 10:55:20
- 訪問次數(shù) 1527
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 20萬-50萬 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,電子 |
金屬鍍層厚度分析儀產(chǎn)品概述:
產(chǎn)品類型:能量色散X熒光光譜分析設(shè)備
產(chǎn)品名稱:鍍層厚度測試儀
型 號:iEDX-150WT
生 產(chǎn) 商:韓國ISP公司
亞太地區(qū)戰(zhàn)略合作伙伴:廣州鴻熙電子科技有限公司
金屬鍍層厚度分析儀產(chǎn)品圖片:
產(chǎn)品優(yōu)勢及特征:
(一)產(chǎn)品優(yōu)勢
1. 鍍層檢測,最多鍍層檢測可達(dá)5層,精度及穩(wěn)定性高(見以下產(chǎn)品特征詳述)。
2. 平臺尺寸:620*525mm,樣品移動距離可達(dá)220*220*10mm。(固定臺可選)
3. 激光定位和自動多點(diǎn)測量功能。
可檢測固體、粉末狀態(tài)材料。
運(yùn)行及維護(hù)成本低、無易損易耗品,對使用環(huán)境相對要求低。
可進(jìn)行未知標(biāo)樣掃描、無標(biāo)樣定性,半定量分析。
操作簡單、易學(xué)易懂、精zhun無損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性,快速出檢測結(jié)果。
可針對客戶個(gè)性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
軟件*升級。
無損檢測,一次性購買標(biāo)樣可重復(fù)使用。
使用安心無憂,售后服務(wù)響應(yīng)時(shí)間24H以內(nèi),提供完方位保姆式服務(wù)。
可以遠(yuǎn)程操作,解決客戶使用中的后顧之憂。
可進(jìn)行RoHS檢測(選配功能),測試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬,測試無鹵素指令中的溴、氯等有害元素。亦可對成分進(jìn)行分析。
(二)產(chǎn)品特征
高性能高精度X熒光光譜儀(XRF)。
計(jì)算機(jī) / MCA(多通道分析儀)。
2048通道逐次近似計(jì)算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器)。
Multi Ray. 運(yùn)用基本參數(shù)(FP)軟件,通過簡單的三步進(jìn)行無標(biāo)樣標(biāo)定,使用基礎(chǔ)參數(shù)計(jì)算方法,對樣品進(jìn)行精que的鍍層厚度分析。
可以增加RoHS檢測功能。
MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進(jìn)行鍍層厚度及全元素分析。
勵(lì)磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1。
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2。
線性模式進(jìn)行薄鍍層厚度測量。
相對(比)模式 無焦點(diǎn)測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497。
多鍍層厚度同時(shí)測量。
測試能力(基本配置:PIN探測器+0.3準(zhǔn)直器)。
當(dāng)化金厚度在2u〞-5u〞時(shí),測量時(shí)間為40S。
準(zhǔn)確度規(guī)格 ±5%。
精Q度規(guī)格<5%(COV變動率)。
當(dāng)化金厚度 >5u〞時(shí),測量時(shí)間為40S。
準(zhǔn)確度規(guī)格 ±5%。
精Q度規(guī)格<5%(COV變動率)。
當(dāng)化銀厚度在5u〞-15u〞時(shí),測量時(shí)間為40S。
準(zhǔn)確度規(guī)格 ±8%。
精Q度規(guī)格<7%(COV變動率)。
測化錫時(shí),測量時(shí)間為40S。
準(zhǔn)確度規(guī)格 ±8%。
精Q度規(guī)格<6% (COV變動率)。
準(zhǔn)確度公式:準(zhǔn)確度百分比=(測試10次的平均值-真值)/真值*100%。
精Q度COV公式: (S/10次平均值)*100%。
Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7軟件操作系統(tǒng)。
完整的統(tǒng)計(jì)函數(shù)均值、 標(biāo)準(zhǔn)差、 低/高讀數(shù),趨勢線,Cp 和 Cpk 因素等。
自動移動平臺,用戶使用預(yù)先設(shè)定好的程序進(jìn)行自動樣品測量。最大測量點(diǎn)數(shù)量 = 每9999 每個(gè)階段文件。每個(gè)階段的文件有最多 25 個(gè)不同應(yīng)用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個(gè)階段文件包含統(tǒng)計(jì)軟件包。包括自動對焦功能、方便加載函數(shù)、瞄準(zhǔn)樣品和拍攝、激光定位和自動多點(diǎn)測量功能。
產(chǎn)品配置及技術(shù)指標(biāo)說明:
金鎳厚測試儀(膜厚儀)
u 測量原理:能量色散X射線分析 | u 樣品類型:固體/粉末 |
u X射線光管:50KV,1mA | u過濾器:5過濾器自動轉(zhuǎn)換 |
u檢測系統(tǒng):Pin探測器(可選SDD) | u能量分辨率:159eV(SDD:125eV) |
u檢測元素范圍:Al (13) ~ U(92) | u準(zhǔn)直器孔徑:0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可選) |
u應(yīng)用程序語言:韓/英/中 | u分析方法:FP/校準(zhǔn)曲線,吸收,熒光 |
u儀器尺寸:840*613*385mm | u樣品移動距離:220*220*10 mm(自動臺) |
X射線管:高穩(wěn)定性X光光管,使用壽命(工作時(shí)間>18,000小時(shí))
微焦點(diǎn)X射線管、Mo (鉬) 靶
鈹窗口, 陽極焦斑尺寸75um,油絕緣,氣冷式,輻射安全電子管屏蔽。
50kV,1mA。高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供Z佳性能。
探測器:SDD 探測器(可選Si-Pin)。
能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)。
濾光片/可選。
初級濾光片:Al濾光片,自動切換。
7個(gè)準(zhǔn)直器:客戶可選準(zhǔn)直器尺寸或定制特殊尺寸準(zhǔn)直器。
(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )。
平臺:軟件程序控制步進(jìn)式電機(jī)驅(qū)動X-Y軸移動大樣品平臺。
激光定位、簡易荷載最大負(fù)載量為5公斤。
軟件控制程序進(jìn)行持續(xù)性自動測量。
樣品定位:顯示屏上顯示樣品鎖定、簡易荷載、激光定位及拍照功能
分析譜線:
- 2048通道逐次近似計(jì)算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換)。
- 基點(diǎn)改正(基線本底校正)。
- 密度校正。
- Multi-Ray軟件包含元素ROI及測量讀數(shù)自動顯示。
視頻系統(tǒng):高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)
- 觀察范圍:3mm x 3mm。
- 放大倍數(shù):40X。
- 照明方法:上照式。
- 軟件控制取得高真圖像。
計(jì)算機(jī)、打印機(jī)(贈送)
- 含計(jì)算機(jī)、顯示器、打印機(jī)、鍵盤、鼠標(biāo)。
- 含Win 7/Win 10系統(tǒng)。
- Multi-Ray鍍層分析軟件。
注:設(shè)備需要配備穩(wěn)壓器,需另計(jì)。
金鎳厚測試儀 iEDX-150WT
金鎳厚測試儀(膜厚儀)
工作條件 | |
●工作溫度:15-30℃ | ●電源:AC: 110/220VAC 50-60Hz |
●相對濕度:<70%,無結(jié)露 | ●功率:150W + 550W |