雙微焦斑單晶X射線(xiàn)衍射儀檢測(cè)
- 公司名稱(chēng) 束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司
- 品牌 Bruker/布魯克
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠(chǎng)商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/9/12 8:42:11
- 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù) 2501
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MicroCT,顯微CT,微焦點(diǎn)CT,骨骼成像,顯微CT材料學(xué)檢測(cè),微納顯微CT,X射線(xiàn)斷層掃描,TOC,元素檢測(cè)
價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類(lèi) | 多晶衍射儀 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 地礦,電子,印刷包裝,冶金 |
雙微焦斑單晶X射線(xiàn)衍射儀檢測(cè)
項(xiàng)目 | 細(xì)則 | 收費(fèi) | 說(shuō)明 |
室溫測(cè)試 | 整套數(shù)據(jù)3h以?xún)?nèi);一般要求警惕尺寸大于50μm;整套數(shù)據(jù) 3h 以上,另需額 外收費(fèi) 150 元/時(shí) | / | 1.長(zhǎng)時(shí)間數(shù)據(jù)手機(jī)(大于5h)、復(fù)雜樣品等特殊測(cè)試,價(jià)格需面議 |
結(jié)構(gòu)解析 | 解析結(jié)構(gòu);孿晶、復(fù)雜結(jié) 構(gòu)、不對(duì)稱(chēng)單元內(nèi)非氫原 子個(gè)數(shù)大于 100 等價(jià)格面議 | / | |
低溫耗材 | 低溫測(cè)試時(shí)使用液氮 | / | |
晶胞參數(shù)確定 | 室溫測(cè)定 | / | |
晶向確定 | 室溫測(cè)定 | / | |
粉末衍射 | 室溫測(cè)定單一譜圖,每樣 每次長(zhǎng)掃描 15min,延 長(zhǎng)時(shí)間按 50 元/15min(校 外按 100 元/15min)計(jì), 不足 15min 按 15min 計(jì) | / | |
廣角散射 | 每 樣 每 次 長(zhǎng) 掃 描 15min,延長(zhǎng)時(shí)間按 50 元 /15min(校外按 100 元 /15min)計(jì),不足 15min 按 15min 計(jì) | / |
雙微焦斑單晶X射線(xiàn)衍射儀檢測(cè)
布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線(xiàn)衍射儀,采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì),通過(guò)TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì),成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換,而無(wú)需對(duì)光。通過(guò)TWIST TUBE技術(shù),使用戶(hù)可以在1分鐘內(nèi)完成從線(xiàn)光源應(yīng)用(常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到點(diǎn)光源應(yīng)用(織構(gòu)、應(yīng)力、微區(qū))的切換,讓煩人的光路互換、重新對(duì)光等問(wèn)題從此成為歷史!
高精度的測(cè)角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個(gè)衍射峰(注意不是一個(gè)衍射峰)的測(cè)量峰位和標(biāo)準(zhǔn)峰位的誤差不超過(guò)0.01度,布魯克AXS公司向大家提供保證!
*的林克斯陣列探測(cè)器可以提高強(qiáng)度150倍,不僅答復(fù)提高設(shè)備的使用效率, 而且大幅提高了設(shè)備的探測(cè)靈敏度。