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MT Century Curve Trace 自動(dòng)特性圖示儀

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公司名稱 香港電子器材有限公司
品牌 其他品牌
型號(hào) MT Century Curve Trace
產(chǎn)地美國
廠商性質(zhì) 代理商
更新時(shí)間 2020/9/21 15:17:50
訪問次數(shù) 595

產(chǎn)品標(biāo)簽

RTI 芯片測量半導(dǎo)體封裝測試自動(dòng)曲線

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公司介紹 主營產(chǎn)品

香港電子器材有限公司成立于一九八五年，是一間為亞太地區(qū)半導(dǎo)體、電子及光電產(chǎn)業(yè)提供設(shè)備、材料以及技術(shù)銷售與服務(wù)的公司。早在九零年代中就分別在中國臺(tái)灣和新加坡設(shè)立分公司，以加強(qiáng)在遠(yuǎn)東地區(qū)的銷售及服務(wù)能力。九零年代末期，亦在上海設(shè)立辦事處，以迎接廿一世紀(jì)中國地區(qū)高科技領(lǐng)域飛騰時(shí)代的來臨。到目前為止, 公司已于香港、新加坡、中國臺(tái)灣、馬來西亞及中國多個(gè)城市(包括北京、成都、大連、上海、深圳、蘇州、天津、武漢及西安)設(shè)有服務(wù)中心, 為客戶提供ZJ的服務(wù)。
香港電子作為多種高科技設(shè)備制造商在遠(yuǎn)東地區(qū)的總代理，主要服務(wù)于半導(dǎo)體封裝廠、芯片生產(chǎn)廠、液晶顯示器廠、發(fā)光二極管廠、電路板廠，以及各大專院校和研究機(jī)構(gòu)。完善的售后服務(wù)是香港電子一直以來所秉持的原則，為了維持良好的售后服務(wù)，工程師均定期的前往設(shè)備制造原廠接受培訓(xùn)或再培訓(xùn)，務(wù)求能為客戶提供ZX的市場和產(chǎn)品信息，以及ZY質(zhì)的售后服務(wù)。

其中光學(xué)產(chǎn)品線：美國普林斯頓CCD、光譜儀，加拿大Sciencetech太陽能模擬器、BNC延遲脈沖器、Gentec光電探測器、海洋光學(xué)光譜產(chǎn)品、Laser Quantum激光器、Crystalaser激光器、EOS紅外探測器、Sydor Instruments X射線超高速掃描照相機(jī)

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美國普林斯頓CCD、光譜儀，加拿大Sciencetech太陽能模擬器、BNC延遲脈沖器、Gentec光電探測器、海洋光學(xué)光譜產(chǎn)品、半導(dǎo)體前道產(chǎn)品、Crystalaser激光器、EOS紅外探測器、半導(dǎo)體后道產(chǎn)品

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產(chǎn)地類別	進(jìn)口	價(jià)格區(qū)間	面議
應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),電子

自動(dòng)特性圖示儀

RTI 開發(fā)的MT Century Curve Tracer是一個(gè)性價(jià)比較高的曲線追蹤設(shè)備。MT Century Curve Tracer測試設(shè)備，多到96個(gè)channel，提供4種型號(hào)可供客戶選擇，一定會(huì)找到一款符合客戶的預(yù)算及測試要求的系統(tǒng)。MT Century Curve Tracer 與RTI其他大型curve trace擁有一樣的可靠性，功率和軟件。

什么是Curve Tracing?
"Curve tracing" 曲線追蹤是用于尋找IC芯片中被電損壞的引腳的方法。MultiTrace產(chǎn)品提供了廣泛的一系列解決方案，從使用powered curve tracing測試小型芯片的開路/短路到使用Latch Up testing測試與更為復(fù)雜的多電路的芯片。

RTI's MultiTrace Test System

原來的自動(dòng)曲線跟蹤器已經(jīng)提供超過10年。這款系統(tǒng)可以ZG檢測達(dá)625引腳。它有各種尺寸可供選擇，以滿足ZG泛用戶的需求。


RTI's MultiTrace 625 引腳 PGA Fixture	RTI's MultiTrace 自動(dòng) DC Parametric 測試系統(tǒng)	StdTrace 軟件追蹤報(bào)告

StdTrace 軟件報(bào)告	大量的參考資料	測試排列軟件

MultiTrace 的應(yīng)用:

無源曲線追蹤器 (Unpowered Curve Tracing):檢測開路，短路和漏電流
有源曲線追蹤器 (Powered Curve Tracing):
檢測漏電流，供電電流問題。測量大量有用的參數(shù)
電源電流測量(Supply Current Measurements):
兩種方法來測量電流供應(yīng) 。
A 6-Bus 系統(tǒng)可同時(shí)對3組電源測量
Latch Up 測試: (選配)
根據(jù)JESD 78 特征, 找出 Latch-Up 敏感度 .

基礎(chǔ) Curve Tracing 的應(yīng)用:

Input-Output 轉(zhuǎn)換功能:
將輸入電壓接到引腳上，測量輸出引腳電平變化.
對晶體管做曲線分析:
檢測任何型號(hào)的晶體管
顯微鏡:
使用顯微鏡定位原件的損傷部位.
IDDQ 測試:
測量芯片每個(gè)狀態(tài)的電流輸入
功能性的引導(dǎo)能力:
Change Input Pin States According to an Input File Then Measure What you Need. Ability to Measure Output States Allows for Gross Functional Testing根據(jù)所輸入信息改變輸入 Pin的狀態(tài)，然后進(jìn)行量測。測量輸出區(qū)域的功能測試狀態(tài)。
Kelvin 4-Wire 阻力測試:
使用這種特制的應(yīng)用軟件來控制開關(guān)矩陣和收集的數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)精密的電阻測量。

RTI's MegaTrace 自動(dòng)直流參數(shù)曲線追蹤

MegaTrace由648引腳開始一直到2160的引腳，因此其有足夠的能力來測試幾乎任何芯片。機(jī)器集成化較高，機(jī)臺(tái)很容易移動(dòng)，也可以與其他儀器如顯微鏡，探針臺(tái)，以及其他遠(yuǎn)程測試機(jī)器一起使用。

曲線追蹤功能

Unpowered 曲線追蹤 (連續(xù)測試)
Powered 曲線追蹤
Supply Current Characterization (Idd 測試)
6條總線系統(tǒng)的2VDD 及 3 VDD 湔試

其它測量及測試功能

Latch-Up 測試
功能性預(yù)處理
任何的±15V 一& ±1A直流測量

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MT Century Curve Trace 自動(dòng)特性圖示儀

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MultiTrace 的應(yīng)用:

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