Cube-110臺式掃描電鏡（Emcrafts），包含CUBE、GENESIS、VERITAS三種規(guī)格，采用統(tǒng)一的優(yōu)良電子光學技術，具有相同的分辨率性能和良好圖像質量，涵蓋市場用戶各種配置需求。電子槍均可升級為亮度提高10倍的更高級的電子槍，實現(xiàn)納米尺度形貌快速表征。樣品臺均采用*優(yōu)中心結構，方便傾斜復位，微區(qū)多角度測試等高難度操作變得簡單。如,EDS，3D立體對成像等。

Cube-110臺式掃描電鏡（Emcrafts）桌面臺式掃描電鏡，標準配置五軸優(yōu)中心樣品臺，樣品室可同時接配SE、BSE、EDS等探測器

Cube-110 采用背散射電子探測器，五軸全手動優(yōu)中心樣品臺

【主要特點】：

 ● 大型掃描電鏡高分辨性能

 ● 精密五軸手動樣品臺，成熟的Genesis優(yōu)中心結構、輕易實現(xiàn)3D重構。

 ● 半導體Bse探測器，在觀察樣品形貌的同時，獲得良好成分襯度。

 ● 體積小巧，移動靈活

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七工位多樣品托， X Y,配合R軸，批量測試樣品，大幅度提高測試效率
馳奔臺式掃描電鏡樣品臺

成分反差和形貌反差

石墨烯_053.jpg

BseD 探測器信號通道及LV可實現(xiàn)非導電樣品直接觀察。

BSED.JPG

【適用范圍】：

     掃描電鏡廣泛應用于冶金、機械、陶瓷、化工、半導體、電子器件、紡織、生物學等行業(yè)領域，適用于科學研究，工業(yè)產(chǎn)品失效分析，產(chǎn)品可靠性控制。*的電子光學性能，滿足客戶從幾倍到幾十萬倍的快速觀察分析，不但具有強大的圖像處理分析功能，還能廣泛連接各種標準或者非標準探測器，拓展成為可靠的分析型電鏡，實現(xiàn)用戶對材料的方位微觀分析。

     Cube-110 適合批量樣品分析測試微區(qū)形貌成分。