光譜橢偏儀廣泛用于薄膜分析和測量。

Holmarc的光譜橢圓儀結(jié)合了旋轉(zhuǎn)分析儀橢偏儀技術(shù)來表征薄膜樣品。它使用高速CCD陣列檢測來收集整個(gè)光譜。它可以測量從納米厚度到數(shù)十微米的薄膜，以及從透明到吸收材料的光學(xué)特性。它可以精確地測量光學(xué)常數(shù)，例如折射率，薄膜厚度和消光系數(shù)。

橢偏原理

 

橢偏法是用于薄膜分析的高度靈敏的技術(shù)。該原理依賴于從表面反射時(shí)光的偏振態(tài)的變化。

表征極化狀態(tài)，對(duì)應(yīng)于電磁波電場的方向；選擇兩個(gè)方向作為參考，p方向（平行）和s方向（垂直）。反射光具有在p方向和s方向上不同的相位變化。橢偏法測量這種極化狀態(tài)；

p  =  rp / rs  =  tan Ψe iΔ

其中Ψ和Δ是振幅比和p的相移和S組分。由于橢圓偏振法正在測量兩個(gè)值的比率，因此它非常準(zhǔn)確且可重現(xiàn)。

特征
 

    無損非接觸技術(shù)

    單層和多層樣品的分析

    精確測量超薄膜

    測量，建模和自動(dòng)操作軟件

    對(duì)（Ψ，Δ）的統(tǒng)一測量靈敏度

此款產(chǎn)品不用于醫(yī)療，不用于臨床使用，此產(chǎn)品僅用于科研使用。