耦合多電極陣列系統(tǒng)（CMAS）由于成分的偏析，微觀晶粒結(jié)構(gòu)的不一致性，表面狀態(tài)的不一致性，導(dǎo)致金屬表面微觀區(qū)域的電化學(xué)電位不一致，即整個(gè)表面就是由微觀的陽(yáng)極區(qū)和微觀的陰極區(qū)組成。在電解質(zhì)溶液里，這些微觀的陽(yáng)極區(qū)和陰極區(qū)通過(guò)金屬本體構(gòu)成的內(nèi)電路以及外部電解質(zhì)溶液構(gòu)成的外電路，形成完整的電化學(xué)通路，無(wú)數(shù)個(gè)腐蝕微電池在金屬表面耦合地進(jìn)行各自的電子轉(zhuǎn)移。

耦合多電極陣列系統(tǒng)（CMAS）

• 0.1mm～3mm）來(lái)模擬金屬表面的微小電化學(xué)性能各異的區(qū)域。通過(guò)測(cè)量流過(guò)每根金屬絲的電流大小以及方向，可以判別該金屬絲的陰陽(yáng)極性，以及作為陽(yáng)極時(shí)腐蝕的深度（由FARADYS ‘LAW準(zhǔn)確計(jì)算）。是目前唯能定量測(cè)量局部腐蝕（點(diǎn)腐蝕和縫隙腐蝕）擴(kuò)展速率的測(cè)量?jī)x器。