CSM-9000型超聲A/B/C/D掃描成像檢測系統(tǒng)是將超聲檢測與微機控制和微機進行數據采集、存貯、處理、圖像顯示集合在一起的技術。通俗地講，C掃描就是圖像顯示工件輪廓及不同顏色顯示內部缺陷的一種技術。廣泛應用于：釬焊的釬合率檢測、有色金屬、靶材、復合材料、航空航天、發(fā)動機挺桿、氣門、電網電極等的檢測

CSM-9000型超聲A/B/C/D掃描成像檢測系統(tǒng)

主要應用

1) 結構內部和表面腐蝕檢測

2) 裂紋深度，形狀和裂紋源的檢測

3) 分層缺陷的檢測

4) 金屬材料、復合材料內部的缺陷檢測

5) 釬焊釬著率的測定

6) 用于各行業(yè)機械零部件檢測

技術指標

1) 系統(tǒng)自由度：3 軸

2) 系統(tǒng)的有效掃描范圍：300mm×400mm×90mm

3) 系統(tǒng)耦合方式：水浸耦合

4) 檢測通道：單通道

5) 系統(tǒng) C 掃描信號采集和運動自動控制：

6) 超聲 C 掃描數據處理與存儲采用 PC 機（臺式機或者筆記本），使用 USB2.0 接口與超聲波發(fā)射/接 收模塊連接，采集和處理已經數字化的超聲波信號。

7) 使用并口或者 USB 接口與步進電機控制器連接，用于控制三軸運動。

8) 超聲波發(fā)射/接收模塊：采用USB2.0接口，超聲脈沖發(fā)射/接收與A/D一體化。

9) 具體性能指標如下：0.5-20MHz帶寬（-3dB帶寬）3個可選寬帶帶通濾波器，匹配不同頻率的水浸聚焦探頭：

    頻帶1： 0.2 ～ 1 MHz ，

    頻帶2： 0.5 ～ 4 MHz ，

    頻帶3： 2 ～ 20 MHz

10) 0-110 dB增益： 多種增益步長供用戶選擇，還有更加靈活的用戶自定義步長模式

      0.2/0.5 / 1 / 2 / 6 / 12 dB為調節(jié)步長，0 dB時鎖定增益。（2） 6.5 ～ 20 dB 自定義步長范圍

11) 檢波方式：射頻 ，全波 ，正半波，負半波

12) 阻尼可選：低（50 Ohm）、高（500 Ohm）

      根據用戶需要可擴展成4種阻尼可選：50 Ohm，75 Ohm，150 Ohm，500 Ohm

13) DAC/TCG，JIS-DAC，AWS1.1，DGS/AVG，REF，斜探頭彩色編碼顯示等業(yè)內所有輔助軟件功能。

14) UT發(fā)射器：脈沖發(fā)射器包括2種類型模式，*數字化可控的方波脈沖 （脈沖寬度和電壓范圍比其他公司調節(jié)范圍寬，并且無級的連續(xù)可調）

      脈沖寬度20 ～ 1000 ns，10ns步長，連續(xù)可調 

      電壓幅度20 ～ 500 V，10V步長，連續(xù)可調

      尖脈沖強度：低（70 V）、高（500 V）

15) 脈沖重復頻率：20 ～ 1K Hz自動調節(jié)

16) 觸發(fā)、閘門及信號特征值

      觸發(fā)模式：軟件控制（手動和自動模式），外部輸入。

      閘門高度（閾值控制）：程序可控1~*全屏

      閘門數量：2個獨立閘門（閘門起點，寬度和高度*可控）

      信號特征采集：實時*特征采集（包含信號幅度和位置）

17) 實時信號特征

      觸發(fā)到界面（一個回波）檢測

      大峰值（閘門內）位置：峰值位置（飛渡時間）檢測

      一個峰值（閘門內）位置：JIS前沿的峰值位置（飛渡時間）檢測

   （閘門內）一個峰值前的閾值時間：JIS前沿檢測

   （閘門內）大峰值前的閾值時間：前沿檢測

   （閘門內）峰值幅度檢測

   （閘門內）一個峰值幅度：JIS前沿的峰值幅度檢測

      信號幅度電壓分辨率大于等于10位

      TOF分辨率10ns

      A/D轉換器

18) 分辨率：10位低功耗A/D轉換器（高采樣率105M采樣點/s）

19) 補償控制：程序控制10位DAC

20) 采樣率至少包含：100M，50M，25M采樣／sec

21) 采樣內存：256KB，SRAM

22) 大波形采樣長度：不低于256KB采樣

23) 軟件主要功能如下： 

24) 全中文操作系統(tǒng)

      實時A-、B-、C-、D-掃描及圖像顯示、存儲。

25) 幅度、TOF（渡越時間）C-掃描結果

26) 實時幅度、TOF以及測厚數字顯示；

27) 動態(tài)隨動門檻，C-掃描修正；

28) C-掃描圖像的光順化處理

29) A—掃描波形上能夠實時顯示

（1）任意點波高

（2）任意位置厚度及TOF信息

（3）任意兩點的厚度差值及TOF差值

30) 單向或雙向掃描；

31) X-Y坐標、幅度-位置坐標、幅度-時間坐標掃描/畫圖；

32) C掃描自動統(tǒng)計缺陷大小、坐標、面積及面積百分比。

33) 實時B掃描，直接由原始A波形生成B掃描。

34) 可實現(xiàn)檢測結果的斷層掃描。

35) 可存儲全波形文件，并可方便修改門檻及增益設置，重新生成C掃描圖像。

36) 掃查結果能夠方便轉化成易于閱讀數據格式文件。