F32 -Filmetrics光學(xué)膜厚測量儀
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 優(yōu)尼康科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 F32
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/7/24 15:52:15
- 訪問次數(shù) 3220
產(chǎn)品標(biāo)簽
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,電子,冶金 |
F32薄膜厚度測量儀
在線測量的解決方案
使用F32可以簡單快速地在線測量膜厚。從對膜的頂部和底部反射光譜進(jìn)行分析可得到實時厚度信息。
F32的光譜分析系統(tǒng)采用半寬的3U rack-mount底盤，加上附加的分光計，可達(dá)到四個不同的位置（EXR和UVX版本多兩個位置）。F32軟件可以通過數(shù)字I/O或主機軟件來控制啟動/停止/復(fù)位測量。測量數(shù)據(jù)可以自動導(dǎo)出到主機軟件中進(jìn)行統(tǒng)計過程控制。Filmetrics還提供可選的透鏡組件，以便于集成到現(xiàn)有的生產(chǎn)裝置上。
包含的軟件和USB連接使得在任何windows平臺上安裝F32很簡單。在測量軟件的幫助下，它預(yù)裝了100多種材料，使得單層和多層薄膜的測量很容易實現(xiàn)。通過測量樣品的光學(xué)常數(shù)或從現(xiàn)有的來源輸入數(shù)據(jù)，可以快速添加新材料。
選擇Filmetrics的優(yōu)勢
• 桌面式薄膜厚度測量
• 24小時電話，郵件和在線支持
• 所有系統(tǒng)皆使用直觀的標(biāo)準(zhǔn)分析軟件
附 加 特 性
• 嵌入式在線診斷方式
• 免費離線分析軟件
• 精細(xì)的歷史數(shù)據(jù)功能，幫助用戶有效地存儲，重現(xiàn)與繪制測試結(jié)果
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