NaU-E650型 X熒光光譜儀主要應(yīng)用特點：

采用納優(yōu)專業(yè)技術(shù)的全新光路設(shè)計，顯著抻高分析精度和數(shù)據(jù)可靠性，減小灰色地帶區(qū)間，節(jié)省外送檢測成本；

行業(yè)內(nèi)全配置的12組濾光片（行業(yè)內(nèi)一般配置≤8組），實現(xiàn)大自動精度選擇空間。

提供開放式工作曲線標(biāo)定技術(shù)平臺，可為用戶量身定做有害物質(zhì)檢測和控制方案；

全自動一鍵式操作－載物平臺、樣品室、準(zhǔn)直器、濾光片、照射光斑定位等全部自動操作；

測試時間在100－400秒間自行設(shè)定（系統(tǒng)自動默認(rèn)設(shè)定200秒）；

經(jīng)典可靠的迷宮式輻射防護(hù)結(jié)構(gòu)，結(jié)合軟硬件多重保護(hù)，確保輻射安全性能；

測量元素范圍：Na-U.

NaU-E650型 X熒光光譜儀主要應(yīng)用技術(shù)指標(biāo)：

（針對RoHS指令要求，按照*電子信息產(chǎn)品污染控制技術(shù)促進(jìn)中心《RoHS檢測用Ｘ?zé)晒饽茏V儀性能評價規(guī)范RoHSQ09-005》的定義和測試方法，篩選測試各種中的Pb、Cd、Hg、CrBrCl）

NaU-E650 進(jìn)行XRF篩選允收標(biāo)準(zhǔn)示例（*值，按照IEC62321Edition 1.0 2008-12 標(biāo)準(zhǔn)帛定）。