Genesis XM系列X射線能譜儀(EDX)
- 公司名稱 EDAX Inc.美國(guó)伊達(dá)克斯有限公司-J
- 品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2019/4/2 16:10:19
- 訪問(wèn)次數(shù) 1231
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價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 探測(cè)器類 | 鋰漂移硅探測(cè)器Si(Li) |
---|---|---|---|
儀器種類 | 進(jìn)口 |
Genesis XM系列X射線能譜儀(EDX)已廣泛應(yīng)用于國(guó)內(nèi)外各種型號(hào)的掃描電鏡和透射電鏡,并且可以同EDAX公司的OIM(電子背散射衍射取向成像分析系統(tǒng))和ACT(自動(dòng)晶體學(xué)分析系統(tǒng))構(gòu)成一體化分析系統(tǒng)。
Genesis XM系列X射線能譜儀(EDX)技術(shù)參數(shù):
1.探頭分辨率優(yōu)于129eV,峰背比優(yōu)于20000:1
2.檢測(cè)元素范圍Be4 - Es99
3.大計(jì)數(shù)率500,000cps
4.大圖象采集分辨率8192x6400象素(矩形);8192x8192像素(方形)
5.大面分布圖采集分辨率2048x1600象素(矩形);2048x2048(方形)
主要特點(diǎn):
1.探頭指標(biāo)高,性能好,壽命長(zhǎng)。
2.全新32位軟硬件系統(tǒng),工作可靠,效率高。
3.具有操作引導(dǎo)的集成式界面,使用直觀方便。
4.具有多種專有技術(shù)軟件,分析精度高。
5.軟件種類及功能豐富,且具有報(bào)告生成系統(tǒng)。