機型

IRT-7200

對應(yīng)FTIR主機

FT/IR-4000系列、6000系列

測光方式

透過?反射測量

觀察方式

直接測量方式

檢測器

標(biāo)準(zhǔn)：中波段MCT檢測器
選項：窄波段MCT檢測器、寬波段MCT檢測器、DLATGS檢測器
   InSb検出器、InGaAs檢測器、陣列中波段檢測器MCT
陣列InSb檢測器、陣列InGaAs檢測器

檢測器切換

選項：配有2個檢測器（軟件切換）、第2個檢測器裝卸配置

SN比

1500:1(陣列MCT檢測器)、8000:1(單元件MCT檢測器)

像素分解
   (陣列MCT)

6.25μm□(32倍)、12.5μm□(16倍)、20μm□(10倍：可選)

測量時間
   (陣列MCT)

1.6秒
   (FT/IR-6000、測量區(qū)域100×100μm、像素分解6.25μm□、分解400px-1、1回計算)

觀測

智能顯示器（可同時測量和觀察樣品）
   CMOS照相機：帶3倍光學(xué)鏡頭
選項：彩色液晶顯示器、二眼鏡筒（內(nèi)置ATOS）

觀察照明

帶自動照亮功能

聚焦

標(biāo)準(zhǔn)

物鏡

標(biāo)準(zhǔn)：16倍、32倍可選擇、選項：10倍

物鏡鏡頭

選項：10倍、20倍

対物鏡切換裝置

4孔自動旋轉(zhuǎn)器、帶対物自動識別裝置

集光鏡

16倍、32倍、10倍(選項)

集光鏡自動調(diào)節(jié)

標(biāo)準(zhǔn)功能

光圈

自動2軸獨立可變、回轉(zhuǎn)(單元件檢測器使用時)

樣品臺

標(biāo)準(zhǔn)：自動XYZ樣品臺、選項：控制桿

真空

選項

智能映射功能

不受樣品臺影響的局部映射
   ATR映射、線映射、多點測定

自動控制XYZ臺
（安裝自動XYZ樣品臺時）

樣品臺移動、定中心、ATR映射、多點測定、
線映射、自動聚焦、ATR控制圧力、多點ATR映射

數(shù)據(jù)処理

峰高、2峰高比、峰面積、2峰面積比、峰漂移
峰半値寬、計算距離

成像顯示

彩色3D表示、鳥瞰図表示、等高線表示、分色表示
三次元表示、二次元表示、編程表示