全自動三離子束拋光切割儀 EM TIC 3X
- 公司名稱 廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/7/18 11:52:42
- 訪問次數(shù) 4059
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接觸角測量儀、在線測厚儀、光學(xué)膜厚儀、紅外光譜儀、拉曼成像光譜儀、拉曼電鏡、低溫恒溫器、掃描探針顯微鏡/原子力、納米壓痕劃痕儀、橢偏儀、熱分析、差示掃描熱儀
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
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儀器種類 | 金相切割機(jī) |
全自動三離子束拋光切割儀 EM TIC 3X
幾乎任何材質(zhì)樣品都可獲得高質(zhì)量截面,在沒有任何變形或損傷的情況下揭開樣品內(nèi)部最真實(shí)結(jié)構(gòu)信息,在使用徠卡EM TIC3X之前,這類工作從未變得如此之簡單。
徠卡EM TIC 3X三離子束切割儀適宜處理軟/硬復(fù)合、帶有孔縫結(jié)構(gòu)、熱敏感性、脆性及非均質(zhì)樣品,獲得樣品截面,從而進(jìn)行掃描電子顯微鏡(SEM),微區(qū)分析(EDS,WDS,Auger,EBSD)及原子力顯微鏡或掃描探針顯微鏡(AFM,SPM)檢測。
三離子束(分別獨(dú)立控制),冷凍樣品臺及多樣品臺,確保離子束對樣品處理高效,切割區(qū)域?qū)捛疑?,從而獲得高質(zhì)量截面切割結(jié)果。
全自動三離子束拋光切割儀 EM TIC 3X
為您帶來的優(yōu)勢
性能*的三離子束系統(tǒng),可獲得佳的截面處理質(zhì)量,并可高效獲得寬且深的切割區(qū)域,大大降低工作時間。并可實(shí)現(xiàn)在一次處理過程中最多處理3個樣品。因此對有高通量需求的實(shí)驗(yàn)室,徠卡EM TIC 3X是佳解決方案。 | 樣品托多種多樣的樣品托,適合于各類尺寸樣品。 |
可裝配系統(tǒng)根據(jù)您的樣品制備需要,可以有針對性地在徠卡EM TIC 3X上裝配一體化設(shè)計樣品臺-標(biāo)準(zhǔn)樣品臺,多樣品臺或冷凍樣品臺。 | 樣品TOPO結(jié)構(gòu)清晰可見除了剖面切割,使用同一樣品托還可對樣品進(jìn)行清潔及增強(qiáng)襯度的功能。 |
冷凍樣品臺針對溫度敏感型樣品如橡膠或水溶性高分子聚合纖維等,可以使用冷凍樣品臺對樣品進(jìn)行低溫下處理,獲得高質(zhì)量處理結(jié)果。樣品托和擋板的溫度都可達(dá)到-150° C。
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