AE-100M 常州萬濠納米白光干涉儀
- 公司名稱 常州首豐儀器科技有限公司
- 品牌 RATIONAL/萬濠
- 型號(hào) AE-100M
- 產(chǎn)地 中國
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2024/8/1 15:26:24
- 訪問次數(shù) 2002
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 重量 | 24kg |
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常州萬濠納米白光干涉儀
產(chǎn)品用途:
結(jié)合光學(xué)顯微鏡與白光干涉儀功能的掃描式白光干涉顯微鏡,結(jié)合顯微物鏡與干涉儀、不需要復(fù)雜光調(diào)整程序,兼顧體積小、納米分辨率、易學(xué)易用等優(yōu)點(diǎn),可提供垂直掃描高度達(dá)400um的微三維測量,適合各種材料與微組件表面特征和微尺寸檢測。應(yīng)用領(lǐng)域包含:玻璃鏡片、鍍膜表面、晶圓、光碟/影碟、精密微機(jī)電元件、平面液晶顯示器、高密度線路印刷電路板、IC封裝、材料分析與微表面研究等。
產(chǎn)品特點(diǎn):
● 納米深度3D檢測
● 高速、無接觸量
● 表面形狀、粗糙度分析
● 非透明、透明材質(zhì)皆適用
● 非電子束、非雷射的安全量測
● 低維護(hù)成本
專業(yè)級(jí)的3D圖形處理與分析軟體(Post Topo):
● 提供多功能又具友好界面的3D圖形處理與分析
● 提供自動(dòng)表面平整化處理功能
● 提供高階標(biāo)準(zhǔn)片的軟件自校功能
● 深度、高度分析功能提供線性分析與區(qū)域分析等兩種方式
● 線性分析方式提供直接追溯ISO定義的表面粗糙度(Roughness)與起伏度
● (waviness)的測量分析??商峁┒噙_(dá)17種的ISO量測參數(shù)與4種額外量測數(shù)據(jù)(Wafer)
● 區(qū)域分析方式提供圖形分析與統(tǒng)計(jì)分析
● 具有平滑化、銳化與數(shù)字過濾波等多種二維快速利葉轉(zhuǎn)換(FFT)處理功能
● 量測分析結(jié)果以BMP等多種圖形檔案格式輸出或是Excel文本文件格式輸出
高速精密的干涉解析軟件(ImgScan):
● 系統(tǒng)硬件搭配ImgScan前處理軟件自動(dòng)解析白光干涉條紋
● 垂直高度可達(dá)0.1nm
● 高速的分析算法則,讓你不在苦候測量結(jié)果
● 垂直掃描范圍的設(shè)定輕松又容易
● 有10X、20X、50X倍率的物鏡可供選擇
● 平臺(tái)X、Y、Z位置數(shù)字式顯示,使檢測目標(biāo)尋找快速又便利
● 具有手動(dòng)/自動(dòng)光強(qiáng)度調(diào)整功能以取得干涉條紋對(duì)比
● 具有高精度的PVSI與高速VSI掃描測量模式供選擇
● 具有解析算法則可處理半透明物體的3D形貌
● 具有自動(dòng)補(bǔ)點(diǎn)功能
● 可自行設(shè)定掃描方向
常州萬濠納米白光干涉儀