布魯克的摩擦測(cè)試設(shè)備，居于世界ling  dao者地位，成為摩擦學(xué)和機(jī)械性能測(cè)試的標(biāo)桿，能在各種環(huán)境條件下執(zhí)行多重檢測(cè)，獲取納米級(jí)、微米級(jí)以及宏觀尺度上材料的摩擦和機(jī)械性能數(shù)據(jù)。目前，全球有上千臺(tái)設(shè)備成功安裝并投入使用，進(jìn)行材料基本性能的測(cè)試，尤其在薄膜研究以及工業(yè)生產(chǎn)的質(zhì)量監(jiān)控方面。

應(yīng)用：

微納壓痕劃痕測(cè)試儀CETR-Apex，是一款多功能微米、納米機(jī)械性能測(cè)試平臺(tái)。性能，操作簡(jiǎn)易。納米壓頭用來測(cè)量超薄涂層尤其是納米級(jí)涂層以及塊體材料的厚度、硬度、楊氏模量等。微米壓頭用于較厚涂層和塊體材料的硬度、楊氏模量等機(jī)械性能測(cè)量。納米、微米級(jí)摩擦學(xué)壓頭用于薄膜、涂層以及塊體材料的摩擦磨損測(cè)量、靜態(tài)/動(dòng)態(tài)摩擦學(xué)測(cè)量、耐用度、附著力，粘滑性等機(jī)械性能測(cè)量。微納壓痕測(cè)試儀廣泛應(yīng)用于以下領(lǐng)域：

特征：

1. CETR-Apex三個(gè)測(cè)量探頭

• 左側(cè)：機(jī)械性能測(cè)試，可以簡(jiǎn)便更換納米、微米壓頭；
• 中部：顯微鏡，多達(dá)4個(gè)不同放大倍數(shù)的物鏡，隨意切換；
• 右側(cè)：掃描成像，AFM和三維光學(xué)輪廓儀隨意切換。

1. 六種機(jī)械壓頭

• 納米壓痕壓頭
• 納米劃痕壓頭
• 微米壓痕壓頭
• 微米劃痕壓頭
• 毫米劃痕壓頭
• 納米、微米級(jí)摩擦學(xué)壓頭

1. 可供選擇的模塊與軟件

• 原位成像模塊
• 摩擦學(xué)測(cè)試&機(jī)械性能測(cè)試分析軟件

1. ASTM/DIN/ISO的標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證---Apex適用于 多重認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)：

• ASTM E2546 納米壓痕檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
• ISO 14577 儀器壓痕硬度檢測(cè)
• ASTM C1624 陶瓷涂層的附著力和機(jī)械性能實(shí)效檢測(cè)
• ASTM G171 材料化劃痕硬度檢測(cè)
• ASTM E384   材料微米尺度的壓痕硬度檢測(cè)