顯微分光光度計
美國CRAIC 20/30 PV顯微分光光度計，是CRAIC公司的新型號，集成了紫外－可見－近紅外光譜儀、拉曼光譜儀、成像系統(tǒng)于一身，根據(jù)產(chǎn)品不同，可以做紫外-可見-近紅外（200-2500nm）的光譜分析，還可以集成顯微拉曼系統(tǒng)，同時科研級光譜儀和高分辨彩色數(shù)字成像系統(tǒng)都使用了新的顯微鏡光路系統(tǒng)及科研級光學(xué)接口。結(jié)合顯微學(xué)和光譜學(xué)的優(yōu)勢，用于微小樣品或樣品的微小區(qū)域的光譜和色度分析，并通過對樣品的反射、透射、熒光及偏振光譜、拉曼測量，完成微量物樣分析。具有科研級高分辨探測器（CCD），半導(dǎo)體制冷探測器，增強穩(wěn)定性；科研級光學(xué)接口，高分辨彩色成像系統(tǒng)。新的操作系統(tǒng)，應(yīng)用軟件使用簡單，操作方便。
開創(chuàng)性20/30 PV系列顯微微分光度計為全光譜顯微譜學(xué)設(shè)立了新的標準。具有前沿科技水平的20/30 PV系列可在樣品采樣區(qū)域進行吸收、透射、反射、熒光以及拉曼等光譜數(shù)據(jù)采集和成像。光譜范圍從紫外到近紅外，具有自動化控制的光譜和圖像分析軟件，擁有自動化、簡便性和長時間穩(wěn)定性的特性。20/30 PV系列可應(yīng)用的領(lǐng)域包括材料科學(xué)、工業(yè)顯微觀測、法醫(yī)痕跡鑒證、生物樣品分析測試等。
高靈敏度固體陣列探測器使用熱電冷卻，具有較高的信噪比和長時間穩(wěn)定性。高分辨數(shù)字成像系統(tǒng)通過CCD收集深紫外和近紅外照射后樣品的高分辨彩色圖像。完善而強大的軟件功能不僅控制顯微鏡、光度計和數(shù)字成像，還能提供*的分析處理能力，如薄膜厚度測量等。
測量結(jié)果： 1、透射光譜/成像 2、反射光譜/成像 3、熒光光譜/成像 4、磷光光譜/成像 5、偏振光譜/成像 6、拉曼光譜 7、膜厚測量、色度測量、折射率測量 |
主要參數(shù)：
光譜范圍 | 200-2500nm |
成像 | 深紫外到近紅外 |
熒光光譜范圍 | 300-1000nm |
熒光激發(fā) | 250-546nm |
采樣面積 | 1-100um |
光譜分辨率 | 1-15nm可調(diào) |
檢測器 | CCD、InGaAs |
檢測器制冷 | 熱電 |
掃描時間（全光譜） | 4ms |
Apollo II 拉曼顯微光譜
激發(fā)源 | |
波長（nm） | 405、532、638、785、830 |
帶寬 | <0.02nm |
最大輸出功率 | 50-100mW |
光譜儀 | |
光譜范圍 | 50-3000cm-1 |
光譜分辨率 | 10cm-1 |
采樣區(qū)域 | 1um（10X@785nm） |
主要特點
- 穩(wěn)定、可靠、高性能
- 紫外-可見-紅外 吸收、反射、熒光光譜及成像
- 可集成1-3個激發(fā)源
- 可升級共聚焦顯微鏡
- 可選高空間分辨率拉曼光譜Mapping
- 可選拉曼動態(tài)顯微鏡
- 提供NIST可追溯樣品
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