美國麥奇克Microtrac噴霧粒度分析儀
- 公司名稱 上海連航機電科技有限公司
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2017/8/29 15:25:00
- 訪問次數(shù) 1317
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美國麥奇克Microtrac噴霧粒度分析儀
產(chǎn)品范圍:
美國麥奇克Microtrac激光粒度分析儀、麥奇克Microtrac電位分析儀、麥奇克Microtrac、麥奇克Microtrac噴霧粒度分析儀、麥奇克Microtrac動態(tài)顆粒圖像分析儀
美國麥奇克Microtrac噴霧粒度分析儀品牌介紹:
美國麥奇克有限公司(Microtrac Inc.)是世界上非常有名的激光應用技術研究和制造廠商,其良好的激光粒度分析儀已廣泛應用于水泥,磨料,冶金,制藥,石油,石化,陶瓷,軍工等領域,并成為眾多行業(yè)的質(zhì)量檢測和控制的分析儀器。Microtrac Inc.公司非常注重技術創(chuàng)新,近半個世紀以來,一直著激光粒度分析的前沿技術,可靠的產(chǎn)品和強大的應用支持及完善的售后服務,使得其不斷超越自我,推陳出新,。麥奇克Microtrac以其在激光衍射/散射技術和顆粒表征方面的獨到見解,經(jīng)過多年的市場調(diào)研和潛心研究,開發(fā)出一代Zetatrac微電場分析技術,融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測量于一體,無需傳統(tǒng)的比色皿,一次進樣即可得到準確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù)。與傳統(tǒng)的Zeta電位分析技術相比,Zetatrac采用良好的“Y”型光纖探針光路設計,配置膜電極產(chǎn)生微電場,操作簡單,測量迅速,無需精確定位由于電泳和電滲等效應導致的靜止層,無需外加大功率電場,無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池,*消除由于空間位阻(不同光學元器件間的傳輸損失,比色皿器壁的折射和污染,比色皿位置的差異,分散介質(zhì)的影響,顆粒間多重散射等)帶來的光學信號的損失,結果準確可靠,重現(xiàn)性好。
技術數(shù)據(jù):
Microtrac S3500激光粒度分析儀系列產(chǎn)品:
藍波2型(BWDL)):濕法測量范圍:0.01-2,800μm;干法測量范圍:0.25-2,800μm藍波1型(BWSL)):濕法測量范圍:0.01-2,000μm;干法測量范圍:0.25-2,000μm
增強型(Enhanced):濕法測量范圍:0.02-2,800μm;干法測量范圍:0.25-2,800μm
擴展型(eXtended):濕法測量范圍:0.02-2,000μm;干法測量范圍:0.25-2,000μm
特殊型(speciaL) : 濕法測量范圍:0.09-1,500μm;干法測量范圍:0.25-1,500μm
標準型(Standard):濕法測量范圍:0.25-1,500μm;干法測量范圍:0.25-1,500μm
型(High): 濕法測量范圍:2.75-2,800μm;干法測量范圍:2.75-2,800μm
基本型(Basic) : 濕法測量范圍:0.70-1,000μm;干法測量范圍:0.70-1,000μm
Microtrac噴霧粒度分析儀技術參數(shù):
測量范圍:0.5um一2,000um
測量方法:靜態(tài)激光衍射分析技術,全量程米氏理論處理
系統(tǒng)自動對焦,實時檢測,分析時間短
自動觸發(fā),可實現(xiàn)脈沖噴霧測量
數(shù)據(jù)處理靈活方便,兼容Windows系列版本
可選型號:SPR3500A(標準型),SPR1500A(大角度)
可選附件干法噴霧器(PD--10S),濕法分散器(SC一13),運動底座(MB-600)
Microtrac動態(tài)顆粒圖像分析儀技術參數(shù):
多于30種的形態(tài)參數(shù)
干法的測量范圍:4μm --4,500μm
采用壓縮空氣分散精細粉末
相機速度:至少100幅/秒,高分辨率相機
堅固而緊湊的外觀設計
封閉式的光學系統(tǒng),減少停機維護
測試方法:動態(tài)顆粒圖像實時分析
樣品用量:0.5-50g
測量時間:1-5分鐘的雙光路一體化設計
用戶可自行定義被測樣品的上下限粒度閾值,進行趨勢分析,統(tǒng)計被測顆粒的數(shù)量,及時反饋調(diào)準