[技術(shù)參數(shù)]
     探測(cè)器：      進(jìn)口半導(dǎo)體探測(cè)器，分辨率達(dá)149eV
     X光管：       鎢（W）靶，zui大電壓50kV，zui大電流1mA
                           使用壽命長(zhǎng)達(dá)5萬小時(shí)
     高壓電源：  精密X射線電源，zui高輸出電壓50kV
                           穩(wěn)定度每8小時(shí)小于0.05%
     濾光片：      6組濾光片手動(dòng)切換，有效降低背景干擾
     準(zhǔn)直器：      直徑8mm、5mm、2mm、1mm、0.5mm、0.2mm電動(dòng)切換
                           免去人工操作煩惱
     對(duì)焦系統(tǒng)：  旋鈕視覺對(duì)焦
     樣品腔：      大氣
     樣品觀察：  高清晰彩色CCD射線頭
     X射線防護(hù)： 三重X射線防護(hù)（樣品腔、機(jī)殼、程序控制），
                           低于GB16355-1996防輻射標(biāo)準(zhǔn)
     輸入電壓：  AC 220V/50HZ
    功耗：           260W
    樣品腔尺寸： 590×390×135mm
    外型尺寸：   650×460×475mm
    重量：          35Kg

[性能指標(biāo)]
    可測(cè)元素：         硫（S）－鈾（U）
    同時(shí)可測(cè)元素： 24種
    分析物質(zhì)狀態(tài)： 固態(tài)、粉末、液體
    含量分析范圍： 0.0005～*
    含量檢出限：     5ppm                                                                                                                                          精度：                 Rh,Pd,Ag－0.01% ， Pt,Au － 0.005%                                                                           
    含量相對(duì)誤差： 10%
    可測(cè)鍍層：         zui多5層金屬鍍層、金屬基體上單層無 機(jī)薄膜
    精度：                 zui高可達(dá)0.02um                                
    厚度相對(duì)誤差： 單層8%，多層15%
    zui小測(cè)量直徑： 2mm
    分析時(shí)間：         60～300S

[功能特點(diǎn)]
    采用進(jìn)口的型探測(cè)器，對(duì)超低含量的元素都能探測(cè)；
    自動(dòng)安全的高壓防護(hù)電路設(shè)計(jì)；
     *的光路系統(tǒng)，增大X射線強(qiáng)度，減少散射背景；
    緊密封閉的腔體設(shè)計(jì)、電路控制、機(jī)械控制三重X射線防護(hù)；
    靈活精準(zhǔn)的分析軟件，既可進(jìn)行簡(jiǎn)單、快速的物質(zhì)測(cè)試，滿足工業(yè)化生產(chǎn)需求；
   專門針對(duì)貴金屬的基體校正，有效解決了校正曲線因主體元素含量不同而帶來的分析誤差；