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武漢東隆科技有限公司
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精準測量PMD:OCI-V光矢量分析系統(tǒng)賦能光纖通信性能優(yōu)化2025/02/21
在光纖通信技術飛速發(fā)展的今天,偏振模色散(PMD)已成為制約系統(tǒng)性能的核心瓶頸之一。PMD會導致信號失真、碼間串擾,并限制傳輸距離,嚴重影響系統(tǒng)的帶寬容量和傳輸可靠性。因此,精準測量PMD對于優(yōu)化光纖通信系統(tǒng)、提升傳輸性能具有至關重要的意義。光矢量分析系統(tǒng)OCI-V作為PMD測量的先進工具,為光纖通信系統(tǒng)的性能優(yōu)化提供了強有力的技術支持。OCI-V光矢量分析系統(tǒng)PMD:高速光纖通信的隱形挑戰(zhàn)PMD的產(chǎn)生源于不同偏振態(tài)的光脈沖在光纖中以不同群速度傳播,導致時延差異。這種時延差異會隨著傳輸距離的增加
機器視覺、粒子計數(shù)器都在用什么類型的激光器?2024/11/20
如果您覺得830nm波長太短,但905nm波長又太長......嗯~那就試試我們的850nm激光器吧!近期,QDlaser公司新推出的法布里-珀羅激光器產(chǎn)品系列新增了850nm波長!QLF083A-50B0/QLF083D-50B0是專為高輸出功率應用而設計的850nm量子阱激光器件。激光二極管采用TO-56封裝,內置PD,平窗管帽密封。?產(chǎn)品:QLF083A-50B0(陽極共用型)/QLF083D-50B0(陰極共用型)?波長:850nm?輸出功率:200mW(CW)?封裝:5.6mmTO-C
『技術知識』體相位全息光柵2024/11/07
典型的表面浮雕光柵通常不如體相光柵厚實。它們多數(shù)被涂以反射表面,并作為反射光柵使用。這些光柵結構常常被“閃耀”處理,以便在特定的波長和幾何配置下有效工作。相比之下,體積相位光柵可以比標準的表面浮雕光柵更厚,并且它們沒有開放的凹槽。它們的工作原理是基于介質中折射率的變化(即指數(shù)調制),通過調整介質的厚度和折射率調制,使其能夠在不同的波長下工作。體相光柵通常被用作透射光柵。對于高密度表面浮雕光柵,存在一個偏振相關損耗(PDL)的問題。隨著光柵頻率的增加,P偏振光的衍射效率(DE)會下降。圖3展示了一
800 nm深入成像新突破:Cobra-D 800 OCT光譜儀,應用于眼科與工業(yè)2024/10/29
傳統(tǒng)上,OCT成像需要使用更長的波長才能在單次掃描中探測到大于幾毫米的深度,但這帶來了與NIR探測器相關的高成本問題。為此,WasatchPhotonics開發(fā)了一種創(chuàng)新的光譜儀設計,使我們能夠使用800nmOCT實現(xiàn)高達12mm的成像深度,這為在更寬的深度范圍內進行經(jīng)濟高效的特征測量開辟了新的可能性。受益于這種遠程成像的應用領域包括眼科、醫(yī)學,以及增材打印和激光加工的無損過程監(jiān)測。鑒于這些應用的風險很高,東隆科技代理的WasatchPhotonics為Cobra-D模型提供了工業(yè)級的機械和熱穩(wěn)
785拉曼光譜儀配置指南:優(yōu)化您的應用性能2024/10/10
正確的工具,是先進成果的起點。WasatchPhotonics在此,隨時助您脫穎而出。無論您是Raman領域的新手,還是對自己的需求了如指掌,亦或是希望從臺式設備過渡到便攜式設備,WasatchPhotonics都能提供您所需的產(chǎn)品、資源和專業(yè)知識。快來探索最新的785拉曼產(chǎn)品及其廣泛應用,并學習如何配置高性能的785拉曼光譜儀。785拉曼光譜儀應設計緊湊、敏感且特定于用戶需求。為此,WasatchPhotonics圍繞自研的全息光柵,打造了一個高靈敏度的光學平臺,旨在填補緊湊型與785拉曼光柵
從零開始:DIY光學相干斷層掃描系統(tǒng)基礎教程2024/09/29
構建DIY光學相干斷層掃描裝置或系統(tǒng)確實是一個充滿挑戰(zhàn)與樂趣的項目。OCT作為一種非侵入性的成像技術,廣泛應用于醫(yī)學領域,尤其在眼科檢查中發(fā)揮著重要作用。要自制這樣一個裝置,但需要多個光學和機械組件、對信號和圖像處理的了解、一些編程專業(yè)知識以及大量時間投資。如果使用預裝的現(xiàn)成SD-OCT光譜儀作為起始組件之一,即可加快和簡化此過程,降低風險,并提高所收集圖像的質量。在本文中,我們將向您介紹DIY光學相干斷層掃描裝置的一些關鍵原理和布局,了解如何從設計的OCT光譜儀部分獲得最佳性能——無論您是打算
創(chuàng)新OCT技術:光柵與光譜儀實現(xiàn)更快更清晰成像2024/09/20
光學相干斷層掃描是一種強大的組織和材料無損3D成像技術。主要用于研究、醫(yī)學診斷、引導手術、工業(yè)加工和無損檢測。WasatchPhotonics公司先進的OCT光柵構建的創(chuàng)新解決方案支持這些應用。東隆科技代理WasatchPhotonics公司的OCT光譜儀系統(tǒng)其設計減少了滾降,提高了靈敏度,從而獲得更快、更清晰的圖像。無論您是研究人員還是OEM,我們都會為您提供合適的光柵或光譜儀支持,以快速構建可捕獲所需圖像的系統(tǒng)。OCT優(yōu)勢?優(yōu)秀的效率和信噪比,可實現(xiàn)更深層次的更清晰的圖像?VPH光柵,低偏振
碲化鎘太陽能電池:綠色能源的新星,高效轉換2024/09/05
隨著全球對清潔能源需求的持續(xù)增長和技術的不斷進步,碲化鎘太陽能電池必將在未來的能源市場中占據(jù)重要地位。??PicoQuant公司一直致力于碲化鎘太陽能電池新材料、?新工藝的探索與研發(fā),充分利用其在時間分辨技術上的優(yōu)勢,?為碲化鎘太陽能電池的性能優(yōu)化和質量控制提供了有力的支持。?多晶碲化鎘(通常稱為pc-CdTe)是一種半導體材料,在光伏領域,特別是在太陽能電池的開發(fā)方面,已經(jīng)獲得了極大的關注和認可。pc-CdTe太陽能電池以其成本效益著稱,因為它們可以使用相對廉價的制造工藝生產(chǎn),而且易于加工。電
東隆集團推出OFDR動態(tài)解調功能,可實現(xiàn)耦合功能實時監(jiān)測2024/08/30
光頻域反射(OFDR)是一種基于掃頻光源的分布式光纖測量技術。通常使用光頻域反射技術測量通信類器件、模塊時,光源在設置的波長范圍內掃描一次則完成單次測量。受限于光源的掃描范圍和掃描速度影響,基于OFDR的相關設備很難做到高速實時的測量與解調。而隨著通信市場的快速發(fā)展,高質量的快速耦合需求越來越多。如何解決耦合過程中的信號監(jiān)測問題,實時評估耦合質量成為行業(yè)研究熱點。近期,東隆集團研發(fā)團隊針對OFDR技術的研究取得重大進展。從最新的測試結果來看,我司自主研發(fā)生產(chǎn)的OCI高分辨光學鏈路診斷儀能夠以10
TRPL工具助力提升太陽能電池和光伏研究水平2024/08/27
在進行太陽能電池、光伏器件和半導體研究的時候,提高其電子和光學特性以及制備方法的效率是至關重要的。?PicoQuant公司緊跟步伐,?積極投身于這一前沿領域的研究,?為科研人員提供了一個強大的非破壞性時間分辨光譜和顯微鏡技術工具箱,比如FLIM(?熒光壽命成像)?、?TCSPC(?時間相關單光子計數(shù))等眾多產(chǎn)品系列。?在提升太陽能電池和光伏研究水平這方面,PicoQant公司又擁有先進的時間分辨光致發(fā)光光譜(TRPL)解決方案。尤其在分析光物理特性和優(yōu)化太陽能電池效率等方面,先進的TRPL能助力
『光學微知識』光纖微裂紋對回波損耗的影響2024/08/01
自從光纖被用于通信以來,與光纖相關的產(chǎn)品與技術得到了顯著發(fā)展。無論是傳統(tǒng)的無源光器件還是近年來AI浪潮下火爆市場的高速光模塊,都大量用到了光纖技術和產(chǎn)品。盡管光纖及相關產(chǎn)品的制作工藝已經(jīng)相當成熟,但光纖以玻璃成分為主,摻雜離子的不均勻、高低溫環(huán)境、長期彎曲形變、剝纖、點膠固化等各種工藝流程均可能使光纖產(chǎn)生細小裂紋。這些微裂紋將嚴重影響光纖的使用壽命,進而影響光纖的信號傳輸性能。微裂紋是指光纖相互分離或擠壓時產(chǎn)生的微小回波損耗異常的裂紋。它在產(chǎn)品剛制作完成時可能不會影響光纖的信號傳輸,但經(jīng)過較長時
OCT光譜儀在無損檢測中的廣泛應用2024/07/03
OCT基于光學相干原理是一種非侵入式光學成像技術,以近紅外光為光源,邁克爾遜干涉儀為核心光學結構,產(chǎn)生光學干涉信號實現(xiàn)成像。原理圖如下所示:近紅外波段的激光信號,通過使用相干干涉法測量樣本的深度就能提供微米級別的分辨率聚焦后的近紅外激光信號能提供更高的橫向分辨率東隆科技總代的WasatchPhotonicsOCT光譜儀是基于光譜儀結構設計,通過記錄不同頻率激光的干涉情況,并使用傅里葉變換得到具體的影像結果。由于采用了高靈敏度、高波長分辨率設計的光譜儀結構,使得該OCT光譜儀在業(yè)內具有優(yōu)秀的檢測深
OFDR設備不能連接超量程的光纖2024/06/24
OFDR設備不能連接超量程的光纖問:儀器標稱測量長度是100米,那我連接大于100米的光纖,只測量前面100米,行不行呢?答:不行!我們在與客戶交流時,經(jīng)常會被問到以上問題,通常情況下,連接的光纖必須要小于儀器標稱測量長度。這里既然用“通?!?,那么當然也存在一些特殊情況可以連接大于100米的光纖,而不影響測量結果。如果要搞清楚這個問題,首先我們需要了解一下信號采集原理中的“混疊現(xiàn)象”,大家可自行搜索百科查看。如下截圖所示:圖“混疊”百科簡單解釋就是:假如儀器采樣頻率是fs,信號頻率是fo,并且f
OCT光譜儀在皮膚病學中的高清應用2024/06/11
OCT光譜儀在皮膚病學中的高清應用皮膚是人體最大的器官,具有驚人的自愈能力,即使在受到嚴重損傷后也能自愈。皮膚作為我們抵御微生物和外界環(huán)境的主要屏障,了解皮膚的修復過程以及如何加速皮膚修復過程是至關重要的。OCT光譜儀提供了一種新穎、無損的方法來實現(xiàn)這一目標,它可以”窺視”皮膚下1-2mm的深度,并且分辨率優(yōu)于10μm。為了驗證這一潛在的應用,邁阿密大學IrenaPastar領導的研究小組決定評估在傷口愈合研究中使用OCT作為組織切片的替代方法。結果如何?OCT光譜儀能夠捕捉到詳細的傷口圖像,可
AFM:整合扭轉分子內電荷轉移和聚集誘導發(fā)光的超快光譜研究2023/11/30
【案例分享】AFM:整合扭轉分子內電荷轉移和聚集誘導發(fā)光的超快光譜研究摘要近日,《AdvancedFunctionalMaterials》刊登了中國科學技術大學周蒙教授團隊與陜西師范大學房喻院士團隊合作研究工作《IntegratingAggregationInducedEmissionandTwistedIntramolecularChargeTransferviaMolecularEngineering》。該研究工作通過分子工程設計合成了同時具有扭轉分子內電荷轉移(TICT)和聚集誘導發(fā)射(A
「原理」如何區(qū)別光纖微裂紋檢測儀OLI的測量長度和引纖長度?2023/11/22
近期,在指導很多客戶免費試用光纖微裂紋檢測儀OLI時,我們發(fā)現(xiàn)有很多客戶對測量長度的概念以及引纖長度的概念并不是特別理解。而這兩個參量均是由設備本身的方案設計所決定的。所以,小編將從最基本的原理去闡述這兩個概念之間的聯(lián)系和區(qū)別。1、引纖長度OLI設備的內部示意圖可簡化為如下圖所示:OLI利用相干調制技術實現(xiàn)分布式光信號檢測。如上圖所示,分光計把光源光分成信號臂和參考臂,利用光源的極低相干性(相干長度短到可忽略),當兩條干涉臂光程幾乎相等時(因為光源相干長度極短,我們把它忽略成相等)發(fā)生干涉,這也
二維電子光譜(2DES)分析從未如此簡單2023/11/09
二維電子光譜(2DES)是一種超快激光光譜技術,可以探測樣品的電子、能量和空間分布。它類似于核磁共振技術,能以高空間分辨率確定復雜的分子結構,是一種能使結構生物學發(fā)生革命性變化的光譜技術。二維電子光譜(2DES)是時間分辨非線性光學實驗設備,因為它能提供有關系統(tǒng)三階非線性響應的最大信息量,而且任何其他三階非線性光譜(如泵浦探針)都包含在二維光譜中。在具有多個相互作用成分的系統(tǒng)中,二維非線性光譜可充分發(fā)揮其威力。2DES可提供二維光譜,展現(xiàn)激發(fā)與發(fā)射頻率之間的相關性,同時具有很高的光譜和時間分辨率
光纖微裂紋檢測儀OLI如何實現(xiàn)光纖鏈路診斷和分析2023/10/12
原理介紹光在光纖中傳輸時,絕大部分光為前向傳輸,即通常所說的透射光。但由于光纖存在結構不均勻,材料密度變化,雜質或者離子摻雜等固有因素,光粒子與光纖介質(主要成分是二氧化硅)相互作用后,因為這些缺陷,必然存在部分與入射光方向相反的光粒子,形成了后向傳輸光,即通常所說的反射光,并且此部分光不可消除。標準良好的單模光纖中,瑞利散射是這些后向傳輸光最主要的形成原因,(原理上,瑞利散射后的光粒子方向是隨機的,這里因為我們主要檢測后向反射光,所以只討論反射光強度)。在光通信領域,通常引入回損概念RL(re
德國PRIMES——掃描場焦點分析儀SFM監(jiān)測nLIGHT AFX-1000 3D打印環(huán)形激光2023/09/19
SFM激光振鏡掃描場焦點分析儀采用刻有10~15微米厚測量線玻璃板的技術表征激光光束特性,光電二極管探測刻線的散射光來測量激光光斑在增材制造工業(yè)領域恩耐AFX-1000環(huán)形光斑激光器越來越受到關注。德國PRIMES公司的激光掃描場焦點分析儀ScanFieldMonitor(SFM)設計用于監(jiān)測激光振鏡掃描系統(tǒng)狀態(tài)以及維持增材制造3D打印加工質量,榮獲AKL2022激光技術創(chuàng)新獎一等獎。本文展示了SFM對AFX-1000激光器不同模式光斑的一系列測量,揭示了SFM觀察到的模式振蕩的來源,光斑分布結
光纖微裂紋診斷儀(OLI)如何快速對硅光芯片耦合質量檢測?2023/08/04
硅光是以光子和電子為信息載體的硅基電子大規(guī)模集成技術,能夠突破傳統(tǒng)電子芯片的極限性能,是5G通信、大數(shù)據(jù)、人工智能、物聯(lián)網(wǎng)等新型產(chǎn)業(yè)的基礎支撐。光纖到硅基耦合是芯片設計十分重要的一環(huán),耦合質量決定著集成硅光芯片上光信號和外部信號互聯(lián)質量。耦合過程中最困難的地方在于兩者光模式尺寸不匹配,硅光芯片中光模式約為幾百納米,而光纖中則為幾個微米,幾何尺寸上巨大差異造成模場的嚴重失配。準確測量耦合位置質量及硅光芯片內部鏈路情況,對硅光芯片設計和生產(chǎn)都變得十分有意義。光纖微裂紋診斷儀(OLI)對硅光芯片耦合質
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