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深圳德譜儀器有限公司

14
  • 2025

    02-03

    使用手持式礦石分析儀時,需要注意以下事項

    手持式礦石分析儀是一種便攜式的、基于光譜分析技術(shù)的設(shè)備,主要用于現(xiàn)場快速、準確地分析礦石中元素的種類及其含量。其工作原理主要基于X射線熒光光譜分析技術(shù)(XRF)。當(dāng)X射線照射到被測樣品時,會激發(fā)樣品中對應(yīng)元素原子的內(nèi)層電子,產(chǎn)生特征X射線。這些特征X射線的能量與元素的種類有關(guān),因此可以通過測量這些特征X射線的能量來確定樣品中存在的元素種類及其含量。使用手持式礦石分析儀時,需要注意以下事項,以確保分析的準確性和儀器的安全性:一、樣品準備代表性:礦石樣品應(yīng)具有代表性,避免選取表面風(fēng)化、污染嚴重或存在
  • 2025

    02-01

    手持式礦石分析儀的特點主要體現(xiàn)在以下幾個方面

    手持式礦石分析儀是一種便攜式的、基于光譜分析技術(shù)的設(shè)備,主要用于現(xiàn)場快速、準確地分析礦石中元素的種類及其含量。其工作原理主要基于X射線熒光光譜分析技術(shù)(XRF)。當(dāng)X射線照射到被測樣品時,會激發(fā)樣品中對應(yīng)元素原子的內(nèi)層電子,產(chǎn)生特征X射線。這些特征X射線的能量與元素的種類有關(guān),因此可以通過測量這些特征X射線的能量來確定樣品中存在的元素種類及其含量。手持式礦石分析儀的特點主要體現(xiàn)在以下幾個方面:一、便攜性手持式礦石分析儀體積小巧、重量輕,方便攜帶,使得用戶能夠隨時隨地進行分析,不受時間和地點的限制
  • 2025

    01-15

    談?wù)刋射線熒光光譜儀在操作方面的建議

    X射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法,其工作原理是X射線光管發(fā)出的初級X射線激發(fā)樣品中的原子,使原子內(nèi)層電子被擊出后,造成核外電子的躍遷。在被激發(fā)的電子返回基態(tài)時,會放射出特征X射線,即X射線熒光。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析。通過分析樣品中不同元素產(chǎn)生的特征熒光X射線波長(或能量)和強度,可以獲得樣品中的元素組成與含量信息,達到定性定量分析的目的。以下是對X射線熒光光譜儀操作建議的詳細介紹:1、準備工作:確保儀器的電源、冷卻系統(tǒng)等設(shè)備正常運轉(zhuǎn)。保持工作區(qū)域干凈整潔,無雜
  • 2025

    01-13

    X射線熒光光譜儀有著怎樣的特點呢?

    X射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法,其工作原理是X射線光管發(fā)出的初級X射線激發(fā)樣品中的原子,使原子內(nèi)層電子被擊出后,造成核外電子的躍遷。在被激發(fā)的電子返回基態(tài)時,會放射出特征X射線,即X射線熒光。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析。通過分析樣品中不同元素產(chǎn)生的特征熒光X射線波長(或能量)和強度,可以獲得樣品中的元素組成與含量信息,達到定性定量分析的目的。X射線熒光光譜儀主要特點的詳細介紹:1、非破壞性分析:XRF技術(shù)不會對樣品造成任何形式的損害,使得珍貴或難以獲取的樣本得以保
  • 2024

    12-30

    ROHS測試儀的結(jié)構(gòu)介紹

    ROHS測試儀,即RoHS檢測儀,是用于檢測電子電氣設(shè)備中是否含有RoHS指令所限制的有害物質(zhì)的儀器。這些有害物質(zhì)包括鉛(Pb)、鎘(Cd)、汞(Hg)、六價鉻(Cr6+)、多溴二苯醚(PBDE)和多溴聯(lián)苯(PBB)。以下是ROHS測試儀的結(jié)構(gòu)介紹:ROHS測試儀主要由以下幾個關(guān)鍵部分組成:激發(fā)源:ROHS測試儀通常使用X射線作為激發(fā)源。X射線與樣品中的元素相互作用,激發(fā)出元素的特征X射線,這是進行元素分析的基礎(chǔ)。探測器:探測器用于收集樣品被激發(fā)后產(chǎn)生的特征X射線。能量色散X射線熒光光譜儀(ED
  • 2024

    10-26

    鍍層測厚儀是一種用于測量產(chǎn)品表面鍍層厚度的設(shè)備

    ?鍍層測厚儀?廣泛應(yīng)用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)和商檢等領(lǐng)域。鍍層測厚儀的主要功能包括測量鍍層厚度、數(shù)據(jù)管理和不同的測量模式,以滿足不同工作現(xiàn)場的需求?。鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右,所以不會對樣品造成損壞。同時,測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。鍍層測厚儀的測量原理和技術(shù)特點如下:?測量原理?:鍍層測厚儀可以采用多種測量方法,包括磁性測厚法、二次熒光法等。
  • 2024

    10-24

    X熒光光譜儀是一種用于元素分析和化學(xué)分析的儀器

    ?X熒光光譜儀(XRF光譜儀)是一種用于元素分析和化學(xué)分析的儀器,適用于金屬、玻璃、陶瓷、建材、地球化學(xué)、法醫(yī)學(xué)、考古學(xué)等領(lǐng)域。?X熒光光譜儀利用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料,激發(fā)出次級X射線,這種現(xiàn)象被稱為X射線熒光(XRF)。這些次級X射線具有不同的能量或波長特性,通過檢測這些特征X射線,可以確定樣品中的元素組成和含量?。分類根據(jù)其結(jié)構(gòu)和測量原理的不同,X熒光光譜儀可以分為波長色散型(WDXRF)和能量色散型(EDXRF)兩種。波長色散型通過測量不同波長的X射線強度來進行定性和定量分析,而
  • 2024

    09-20

    ?XRF檢測儀是一種基于X射線熒光原理的設(shè)備

    XRF檢測儀是一種常用于材料分析的儀器,能夠快速、準確地測定材料中的元素成分。?XRF檢測儀用于檢測和分析各種物質(zhì)中的元素成分。?它的工作原理是利用高能X射線照射待測樣品,使樣品中的原子產(chǎn)生激發(fā)態(tài),然后通過測量這些激發(fā)態(tài)原子發(fā)出的不同能量的熒光來確定樣品中含有的元素種類及其含量。XRF檢測儀具有分析速度快、精密度高的特點,能夠進行非破壞性的元素分析和化學(xué)分析。它的應(yīng)用領(lǐng)域廣泛,包括但不限于地質(zhì)勘探、珠寶鑒定、環(huán)境保護等。此外,XRF檢測儀還可以用于監(jiān)測廢水中的重金屬離子濃度,確保廢水排放符合環(huán)保
  • 2024

    08-19

    XRF測試儀是一種什么樣的分析儀器呢

    XRF測試儀利用X射線照射樣品,使樣品中的原子或分子內(nèi)層電子被激發(fā)后返回到基態(tài)過程中發(fā)射出特征X射線(熒光X射線),根據(jù)這些熒光X射線的波長和強度來定性分析樣品的化學(xué)組成(元素種類)和含量。工作原理1.X射線激發(fā):X射線管產(chǎn)生的X射線照射到樣品表面,激發(fā)樣品中的原子。2.熒光X射線發(fā)射:被激發(fā)的原子內(nèi)層電子躍遷回基態(tài)時,釋放出能量,這些能量以熒光X射線的形式發(fā)射出來。3.探測與分析:探測器收集到熒光X射線,通過信號處理系統(tǒng)轉(zhuǎn)換為電信號,并進行放大和濾波等處理。計算機系統(tǒng)根據(jù)熒光X射線的波長和強度
  • 2024

    07-12

    關(guān)于X射線熒光光譜儀重要作用介紹

    X射線熒光光譜儀(?XRF)?通過激發(fā)源(?X射線管)?產(chǎn)生入射X射線(?一次X射線)?,?這些入射X射線能夠激發(fā)被測樣品,?產(chǎn)生X熒光(?二次X射線)?。?探測器隨后對產(chǎn)生的X熒光進行檢測,?從而實現(xiàn)對物質(zhì)的化學(xué)元素、?物相、?化學(xué)立體結(jié)構(gòu)、?物證材料等進行測試。?此外,?X射線熒光光譜分析技術(shù)不僅是一種快速、?準確而又經(jīng)濟的多元素分析方法,?還被用于無損檢測產(chǎn)品和材料質(zhì)量,?以及微電路的光刻檢驗等。?因此,?X射線熒光光譜儀在冶金、?地質(zhì)、?礦物、?石油、?化工、?生物、??考古等諸多部門和
  • 2024

    06-28

    ROHS檢測儀的相關(guān)介紹

    ROHS分析檢測儀是提供體積小、識別速度快、功能多、精度高,對ROHS及有害元素進行可靠性識別(PMI)和確認的便攜式多用途掌上型X射線熒光分析檢測儀,該分析檢測儀不僅縮短了測試耗時,而且削減了分析費用。它可以現(xiàn)場完成有害元素的檢測和分析。減少帶來的環(huán)境污染以及對健康的危害。該分析檢測儀確保無放射性,多種可選擇的濾波器??杉磿r傳送、讀數(shù),其主要部件是一根微小的X射線管和高分辯率探測器。從而確保分析檢測質(zhì)量,測試時間可在20秒內(nèi)完成。Rohs指的是限制使用某些有害物質(zhì)指令(Restrictiono
  • 2024

    05-29

    談?wù)劚銛y式礦石元素分析儀的應(yīng)用范圍

    便攜式礦石元素分析儀是一種專門設(shè)計用于現(xiàn)場快速分析礦石元素及含量的設(shè)備。是以其小巧輕便、易于攜帶的特點,為地質(zhì)勘查、礦山開采、礦產(chǎn)貿(mào)易和環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域提供了極大的便利。該儀器利用先進的x射線管分析系統(tǒng),無需輻射性同位素,即可在現(xiàn)場對礦石進行快速而全面的分析。便攜式礦石元素分析儀的應(yīng)用范圍:1、礦山勘察:在礦山勘察中,礦石元素分析儀可以用于多元素現(xiàn)場快速分析,追蹤礦化異常,擴展勘察范圍,降低樣品運回實驗室的運輸和分析成本。這在現(xiàn)場快速決策和減少不必要的物流成本方面具有重要意義。2、巖心監(jiān)測:礦石元
  • 2024

    05-28

    以下是對便攜式礦石元素分析儀特點的相關(guān)介紹

    便攜式礦石元素分析儀是一種專門設(shè)計用于現(xiàn)場快速分析礦石元素及含量的設(shè)備。是以其小巧輕便、易于攜帶的特點,為地質(zhì)勘查、礦山開采、礦產(chǎn)貿(mào)易和環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域提供了極大的便利。該儀器利用先進的x射線管分析系統(tǒng),無需輻射性同位素,即可在現(xiàn)場對礦石進行快速而全面的分析。以下是對便攜式礦石元素分析儀特點的相關(guān)介紹:1、便攜性:該設(shè)備具有顯著的便攜性,操作人員可以隨身攜帶儀器進行野外調(diào)查,避免了樣品采集后需長途運送至實驗室的時間浪費。2、實時分析:用戶能夠在幾分鐘內(nèi)獲取樣品的成分信息,極大地提高了工作效率,這對
  • 2024

    05-28

    X射線熒光光譜儀的產(chǎn)品應(yīng)用特點介紹

    X射線熒光光譜儀是一種利用X射線照射物質(zhì)后產(chǎn)生熒光現(xiàn)象的儀器,可以用于元素分析和表面化學(xué)分析。其工作原理如下:X射線照射待檢樣品表面,激發(fā)原子內(nèi)部電子躍遷,產(chǎn)生特定波長的熒光輻射,熒光輻射被探測器檢測并轉(zhuǎn)化成電信號,再經(jīng)過信號處理裝置分析、處理和記錄,通過熒光輝譜儀分析熒光發(fā)射的波長和強度,可以確定樣品中的元素種類和含量。X射線熒光光譜儀具有高靈敏度、高準確度和非破壞性的特點,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、金屬分析等領(lǐng)域。X熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X
  • 2024

    04-02

    關(guān)于XRF檢測儀的分析說明

    X射線熒光光譜(XRF)具有干擾小、分析速度快、并且可以同時進行多元素分析等優(yōu)點,是固體物質(zhì)成分分析的常規(guī)檢測手段,也是一種重要的表面/表層分析方法。XRF分析儀具有快速、無損等特點,因此被廣泛應(yīng)用于材料檢測與分析領(lǐng)域。X射線熒光光譜儀是一種元素分析工具,幾十年來一直是檢測實驗室的主要分析儀器之一。這種多樣化的無損檢測方法只需要很少的樣品制備工作,并且對操作人員的經(jīng)驗要求并不是太高,而且,該檢測技術(shù)還可以快速提供準確的檢測結(jié)果。X射線熒光(XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出的次級
  • 2024

    03-29

    ROHS測試儀主要用在哪些地方呢

    RoHS儀器是用于測量電子電器設(shè)備中是否含有**管控的六類(鉛Pb,鎘Cd,汞Hg,六價鉻Cr6+,多溴二苯醚PBDE,多溴聯(lián)苯PBB六種)有害物質(zhì)的儀器,原理是利用X射線檢測ROHS標(biāo)準規(guī)定中的元素的含量。RoHS檢測儀的應(yīng)用范圍廣泛,包括電子、電器、電線電纜、玩具、汽車、航空航天等領(lǐng)域。在這些領(lǐng)域中,RoHS檢測儀發(fā)揮著重要的作用,確保產(chǎn)品符合RoHS標(biāo)準,減少有害物質(zhì)的使用,降低對環(huán)境和人體健康的潛在風(fēng)險。RoHS檢測儀采用X射線熒光光譜法或能量色散X射線熒光光譜法等技術(shù),能夠快速準確地檢
  • 2024

    03-25

    全譜直讀光譜儀在于其能夠直接讀取并分析全譜范圍內(nèi)的光譜信息

    全譜直讀光譜儀是一種先進的材料分析儀器,其強大的功能和廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域使其成為現(xiàn)代科研和工業(yè)生產(chǎn)中的重要工具。這種光譜儀以其高分辨率、快速檢測以及廣泛波長范圍等特點,在多個領(lǐng)域發(fā)揮著關(guān)鍵作用。首先,全譜直讀光譜儀的核心優(yōu)勢在于其能夠直接讀取并分析全譜范圍內(nèi)的光譜信息。通過利用光柵或光波導(dǎo)等光學(xué)元件,全譜直讀光譜儀能夠?qū)⑷肷涔夥蛛x成不同波長的光,并通過光電傳感器進行精確測量。這種能力使得全譜直讀光譜儀可以覆蓋從紫外到紅外的廣泛波長范圍,為研究者提供了豐富的光譜數(shù)據(jù),有助于更深入地了解材料的性質(zhì)和組成
  • 2024

    03-12

    X射線熒光光譜儀分析過程中不需要對樣品進行特殊處理或破壞

    X射線熒光光譜儀(XRF)是一種廣泛應(yīng)用于物質(zhì)成分分析的科學(xué)儀器。它利用X射線與物質(zhì)相互作用產(chǎn)生的熒光現(xiàn)象,對物質(zhì)中的元素進行定性和定量分析。在現(xiàn)代科學(xué)研究、工業(yè)生產(chǎn)以及環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域,XRF光譜儀都發(fā)揮著舉足輕重的作用。首先,我們來了解XRF光譜儀的基本工作原理。XRF光譜儀的核心部分主要包括X射線管、樣品臺和探測器。工作時,X射線管發(fā)射出初級X射線,這些射線照射到樣品上,激發(fā)樣品中的原子。受激發(fā)的原子會放射出次級X射線,即X熒光。不同元素的原子在受到激發(fā)時,會放射出具有特定能量或波長的X熒光
  • 2024

    03-06

    X熒光光譜儀的主要類型講述

    X射線熒光光譜是一種廣泛應(yīng)用于元素分析的非破壞性測試技術(shù)。它基于X射線與物質(zhì)相互作用的原理,通過測量物質(zhì)中熒光輻射的能量和強度來確定樣品中的元素組成和含量。利用X射線熒光分析原理對樣品中的元素進行定性、定量分析??梢詫K狀固體、壓型或松散粉末、熔融片、液體、金屬片、顆粒狀和薄膜樣品中含量0.0001%的元素進行分析,適用于鋼鐵、有色金屬及稀土冶金、水泥、石化、地質(zhì)、環(huán)境、生物、食品、電子材料、考古、珠寶無損檢測等領(lǐng)域。X熒光光譜儀由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X
  • 2024

    02-29

    XRF測試儀器是用在哪里的呢

    XRF測試儀器是一種常用的分析設(shè)備,可用于快速和非破壞性地確定各種材料的成分。XRF指的是X射線熒光光譜儀,可以快速同時對多元素進行測定的儀器。在X射線激發(fā)下,被測元素原子的內(nèi)層電子發(fā)生能級躍遷而發(fā)出次級X射線(X-熒光)。從不同的角度來觀察描述X射線,可將XRF分為能量散射型X射線熒光光譜儀,縮寫為EDXRF或EDX和波長散射型X射線熒光光譜儀,可縮寫為WDXRF或WDX,但市面上用的較多的為EDX。XRF測試可以檢測的元素主要包括金屬元素和非金屬元素。其中金屬元素包括鐵、銅、鉛、鋅、錫、鋁和
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