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X熒光測(cè)硫儀的操作步驟說(shuō)明2023/10/08: X熒光測(cè)硫儀是一種微機(jī)化的新的定量分析儀器，依據(jù)X熒光能量色散原理，采用X光管激發(fā)技術(shù)，運(yùn)用核電子學(xué)和微機(jī)共同組成的一款物理測(cè)量方法的分析儀器。廣泛用于以下方面：1.測(cè)量原油、重油、柴油、煤油、汽油等液體樣品中的總硫質(zhì)量百分比含量；2.測(cè)量固體粉末樣品中硫含量，如陽(yáng)極炭塊、石油焦、改質(zhì)瀝青等炭素類材料；3.測(cè)量潤(rùn)滑油、石油添加劑中總硫或硫化物含量；4.測(cè)量其它液體、固體中總硫或硫化物含量。在使用X熒光測(cè)硫儀設(shè)備時(shí)，首先需要檢查儀器是否正常工作，包括電源、顯示屏等設(shè)備是否處于正常狀況，是否需要進(jìn)行

紅外硫碳分析儀主要有哪些組成部分？2023/09/04: 硫和碳是自然界中廣泛分布的元素，碳硫分析是冶金工藝和地質(zhì)學(xué)研究的重要步驟。紅外硫碳分析儀基于紅外吸收的物理原理，具有操作簡(jiǎn)單、誤差小、可綜合批量分析等優(yōu)點(diǎn)，可準(zhǔn)確測(cè)量鋼鐵等材料中硫碳質(zhì)量分?jǐn)?shù)，主要用于冶金、機(jī)械、商檢、科研、化工等行業(yè)中的黑色金屬、有色屬、稀土金屬無(wú)機(jī)物、礦石、陶瓷等物質(zhì)中的碳、硫元素含量分析。紅外硫碳分析儀主要由以下部分組成：紅外探測(cè)池、高溫爐、電子天平、氣體傳輸系統(tǒng)、過(guò)濾系統(tǒng)、電腦。（1）紅外探測(cè)池即紅外探測(cè)器，包括紅外光源.反射鏡.調(diào)制盤.吸收池.濾光片和探測(cè)器，紅外探測(cè)器

X熒光光譜儀的原理說(shuō)明2023/08/07: X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測(cè)樣品，產(chǎn)生X熒光（二次X射線），探測(cè)器對(duì)X熒光進(jìn)行檢測(cè)。X熒光光譜儀主要由激發(fā)源（X射線管）和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。其原理就是：X射線管通過(guò)產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），來(lái)激發(fā)被測(cè)樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線（又叫X熒光），并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來(lái)的二次X射線的能量及數(shù)量或者波長(zhǎng)。然后，儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信

火花直讀光譜儀的工作原理介紹2023/07/12: 火花直讀光譜儀是進(jìn)行冶煉爐前的在線分析以及中心實(shí)驗(yàn)室的產(chǎn)品檢驗(yàn)，是控制產(chǎn)品質(zhì)量的有效手段之一。火花直讀光譜儀用電?。ɑ蚧鸹ǎ┑母邷厥箻悠分懈髟貜墓虘B(tài)直接氣化并被激發(fā)而發(fā)射出各元素的特征波長(zhǎng)，用光柵分光后，成為按波長(zhǎng)排列的“光譜”，這些元素的特征光譜線通過(guò)出射狹縫，射入各自的光電倍增管，光信號(hào)變成電信號(hào)，經(jīng)儀器的控制測(cè)量系統(tǒng)將電信號(hào)積分并進(jìn)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換，然后由計(jì)算機(jī)處理，并打印出各元素的百分含量?；鸹ㄖ弊x光譜儀具有許多優(yōu)點(diǎn)。首先，它可以在一次測(cè)試中分析出樣品中含量較高的多種金屬元素，達(dá)到較高的分

原子吸收分光光度計(jì)的工作原理說(shuō)明2023/06/12: 原子吸收分光光度計(jì)根據(jù)物質(zhì)基態(tài)原子蒸汽對(duì)特征輻射吸收的作用來(lái)進(jìn)行金屬元素分析，能夠靈敏可靠地測(cè)定微量或痕量元素。儀器一般由四大部分組成，即光源（單色銳線輻射源）、試樣原子化器、單色儀和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)（包括光電轉(zhuǎn)換器及相應(yīng)的檢測(cè)裝置）。原子吸收分光光度計(jì)的工作原理：元素在熱解石墨爐中被加熱原子化，成為基態(tài)原子蒸汽，對(duì)空心陰極燈發(fā)射的特征輻射進(jìn)行選擇性吸收。在一定濃度范圍內(nèi)，其吸收強(qiáng)度與試液中被的含量成正比。其定量關(guān)系可用郎伯-比耳定律，A=-lgI/Io=-lgT=KCL，式中I為透射光強(qiáng)度；I0為

全元素光譜分析儀的原理、應(yīng)用和優(yōu)勢(shì)介紹2023/05/17: 全元素光譜分析儀是一種常用的分析測(cè)試工具，它可以準(zhǔn)確地檢測(cè)出樣品中含有的所有元素，通常被廣泛應(yīng)用于物質(zhì)成分分析、質(zhì)量控制和研究領(lǐng)域等方面。在本文中，我們將詳細(xì)介紹它的原理、應(yīng)用和優(yōu)勢(shì)。1.原理全元素光譜分析儀主要基于原子發(fā)射光譜技術(shù)，通過(guò)將樣品原子激發(fā)至高能態(tài)，使其發(fā)射特定波長(zhǎng)的光線，然后測(cè)量這些光線的強(qiáng)度和波長(zhǎng)，從而確定樣品中各種元素的存在與含量。該技術(shù)具有高靈敏度、高精度、高分辨率等優(yōu)點(diǎn)，可用于微量元素含量的分析。2.應(yīng)用廣泛應(yīng)用于多個(gè)領(lǐng)域，包括冶金、環(huán)境、生命科學(xué)、食品、醫(yī)藥等行業(yè)。其中，

ROHS2.0分析儀具有高精度、高效率、非破壞性等優(yōu)點(diǎn)2023/05/17: ROHS2.0分析儀是一種用于檢測(cè)電子產(chǎn)品和相關(guān)材料中有害物質(zhì)的儀器。ROHS2.0指令規(guī)定了六種有害物質(zhì)在電子產(chǎn)品和相關(guān)材料中的限制含量。這些有害物質(zhì)對(duì)環(huán)境和人類健康都具有潛在危害，因此需要進(jìn)行監(jiān)測(cè)和限制。ROHS2.0分析儀通?；赬射線熒光光譜技術(shù)（XRF）或紅外光譜技術(shù)（IR），用于檢測(cè)電子產(chǎn)品和相關(guān)材料中的有害物質(zhì)含量。XRF技術(shù)通過(guò)照射樣品和測(cè)量其發(fā)射的特定波長(zhǎng)的X射線來(lái)確定樣品中的化學(xué)元素和其含量。IR技術(shù)則利用吸收和散射光譜來(lái)確定樣品中的分子結(jié)構(gòu)和含量。具有高精度、高效率、非破壞

高效液相色譜儀的柱壓?jiǎn)栴}及解決方法2023/05/17: 高效液相色譜儀(HPLC)是應(yīng)用高效液相色譜原理，主要用于分析高沸點(diǎn)不易揮發(fā)的、受熱不穩(wěn)定的和分子量大的有機(jī)化合物的儀器設(shè)備。它由儲(chǔ)液器、泵、進(jìn)樣器、色譜柱、檢測(cè)器、記錄儀等幾部分組成。廣泛應(yīng)用于生命科學(xué)、食品科學(xué)、藥物研究以及環(huán)境研究中。工作時(shí)儲(chǔ)液器中的流動(dòng)相被高壓泵壓入檢測(cè)系統(tǒng)，樣品溶液經(jīng)進(jìn)樣器進(jìn)入色譜系統(tǒng)，被流動(dòng)相載入色譜柱（固定相）內(nèi)，由于樣品溶液中的各組分在兩相中具有不同的分配系數(shù)，在兩相中作相對(duì)運(yùn)動(dòng)時(shí)，經(jīng)過(guò)反復(fù)多次的吸附-解吸的分配過(guò)程，各組分在移動(dòng)速度上產(chǎn)生較大的差別，被分離成單個(gè)

X射線熒光光譜儀有哪些應(yīng)用？2023/04/28: X射線熒光光譜儀具有重現(xiàn)性好，測(cè)量速度快，靈敏度高的特點(diǎn)。能分析F（9）～U（92）之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對(duì)象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無(wú)標(biāo)半定量方法可以對(duì)各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結(jié)果，結(jié)果準(zhǔn)確度對(duì)某些樣品可以接近定量水平，分析時(shí)間短。應(yīng)用：（1）石油化工相關(guān)產(chǎn)品中微量硫、氯、硅、磷含量檢測(cè)，對(duì)輕元素檢出限達(dá)到0.1~0.5mg/kg水平；（2）土壤重金屬含量檢測(cè)，可檢測(cè)農(nóng)用地以及建設(shè)用地土壤環(huán)境中Cr、Ni、Cu、Zn

X射線鍍層測(cè)厚儀的原理和應(yīng)用2023/04/22: 鍍層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后，采用X射線鍍層測(cè)厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。測(cè)量精度可達(dá)到相對(duì)誤差±1.5%（1微米厚度）,±0.01%(成分)，與傳統(tǒng)的磁性測(cè)厚儀相比，性能上有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡(jiǎn)便且性價(jià)比高，是工業(yè)和科研使用廣泛的測(cè)厚儀器。工作原理：鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的第二次X射線的強(qiáng)度來(lái)測(cè)量鍍層等金

天瑞X射線熒光光譜儀的應(yīng)用領(lǐng)域和優(yōu)點(diǎn)有哪些2023/04/17: 天瑞X射線熒光光譜儀利用X射線與物質(zhì)相互作用的現(xiàn)象進(jìn)行分析，即當(dāng)X射線進(jìn)入樣品后，會(huì)被樣品中的原子吸收并獲得足夠的能量，進(jìn)而使原子內(nèi)部某個(gè)電子從束縛態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài)。隨后，該激發(fā)態(tài)電子會(huì)放出一個(gè)X射線，并且每個(gè)元素都有能級(jí)結(jié)構(gòu)和X射線能量，因此不同元素放出的X射線也具有不同的能量。通過(guò)檢測(cè)這些能量，可以確定樣品中含有哪些元素以及它們的相對(duì)含量。天瑞X射線熒光光譜儀廣泛應(yīng)用于各種領(lǐng)域，包括金屬、建筑材料、化學(xué)品、醫(yī)藥、環(huán)境和地質(zhì)等。以下是一些主要應(yīng)用。1.金屬分析可以用于金屬產(chǎn)品和合金的分析，例如不

介紹X熒光光譜儀XRF工作原理、應(yīng)用領(lǐng)域以及優(yōu)點(diǎn)2023/04/17: X熒光光譜儀XRF是一種用于非破壞性分析的儀器，它通過(guò)對(duì)物質(zhì)進(jìn)行激發(fā)，并測(cè)量由此產(chǎn)生的X射線來(lái)確定樣品中元素的含量和化學(xué)組成。本文將介紹它工作原理、應(yīng)用領(lǐng)域以及優(yōu)點(diǎn)。一、工作原理利用高能X射線或帶電粒子束使樣品中的原子內(nèi)部電子躍遷到更高能級(jí)，此過(guò)程會(huì)釋放出能量較低的X射線。當(dāng)這些X射線通過(guò)樣品時(shí)，它們會(huì)與樣品中的原子相互作用，從而產(chǎn)生一系列散射和熒光現(xiàn)象。測(cè)量的是這些熒光輻射，通過(guò)測(cè)量熒光輻射的能量和強(qiáng)度，可以確定樣品中各種元素的含量和化學(xué)狀態(tài)。二、應(yīng)用領(lǐng)域廣泛應(yīng)用于許多不同的領(lǐng)域，包括金屬制造

能量色散X射線熒光光譜儀EDX使用時(shí)需要注意什么？2023/03/27: 能量色散X射線熒光光譜儀EDX是利用試樣發(fā)出的元素特征X射線波長(zhǎng)和強(qiáng)度大小，分析測(cè)定試樣中可能含有的元素。通過(guò)對(duì)比不同元素譜線的強(qiáng)度可以測(cè)定試樣中元素的含量。主要應(yīng)用包括石油和燃料、塑料、橡膠和紡織品、醫(yī)藥產(chǎn)品、食品、化妝品和身體護(hù)理產(chǎn)品、肥料、地質(zhì)材料、采礦飼料、礦渣和尾礦、水泥、耐熱材料、玻璃、陶瓷、催化劑和晶片的分析。紙張、薄膜和聚酯涂層的測(cè)定；以及金屬、玻璃和塑料；法醫(yī)學(xué)；硅片上的多層薄膜、光伏和旋轉(zhuǎn)存儲(chǔ)介質(zhì)、用于污染監(jiān)測(cè)的固體廢物、流出物、清洗液、水池和過(guò)濾器。此外，x射線透射(XRT

波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀具有怎樣的特點(diǎn)？2023/03/20: 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀是一種用于分析樣品成分的儀器。它是一種光譜分析儀器，能夠利用X射線的特殊性質(zhì)和熒光現(xiàn)象，快速、準(zhǔn)確地分析樣品中的元素和其含量。工作原理是利用高能X射線輻射樣品產(chǎn)生的特定波長(zhǎng)的熒光輻射。當(dāng)經(jīng)過(guò)激發(fā)之后發(fā)射X射線的特定能量超過(guò)樣品表面元素的結(jié)合能時(shí)，就會(huì)產(chǎn)生熒光輻射。這些熒光輻射的強(qiáng)度和能量分布與樣品中元素的種類和含量有關(guān)。主要組成部分包括X射線發(fā)生器、樣品支架、X射線熒光探測(cè)器、能譜儀和計(jì)算機(jī)。X射線發(fā)生器產(chǎn)生高能X射線，經(jīng)過(guò)樣品后，樣品中的元素會(huì)產(chǎn)生熒光輻射，熒光輻射被熒

液相色譜與氣相色譜的差別主要有哪些方面？2023/03/17: 液相色譜儀利用混合物在液-固或不互溶的兩種液體之間分配比的差異，對(duì)混合物進(jìn)行先分離，而后分析鑒定的儀器?，F(xiàn)代液相色譜儀由高壓輸液泵、進(jìn)樣系統(tǒng)、溫度控制系統(tǒng)、色譜柱、檢測(cè)器、信號(hào)記錄系統(tǒng)等部分組成。液相色譜與氣相色譜的差別主要有哪些方面？①操作條件及應(yīng)用范圍不同對(duì)于氣相色譜，是加溫操作。僅能分析在操作溫度下能汽化而不分解的物質(zhì)，對(duì)高沸點(diǎn)化合物、非揮發(fā)性物質(zhì)、熱不穩(wěn)定化合物、離子型化合物及高聚物的分離、分析較為困難，致使其應(yīng)用受到一定程度的限制，據(jù)統(tǒng)計(jì)只有大約20%的有機(jī)物能用氣相色譜分析。而液相色

金屬合金分析儀的基本原理及功能特點(diǎn)表現(xiàn)2023/03/15: 金屬合金分析儀是一種專門用來(lái)分析和檢測(cè)金屬合金成分的分析儀器，可以精準(zhǔn)地分析金屬合金中的各種元素含量和化學(xué)組成，讓用戶快速掌握合金質(zhì)量情況和應(yīng)用范圍，為用戶提供有效的科學(xué)幫助。下文將圍繞原理、功能、應(yīng)用領(lǐng)域等方面進(jìn)行具體介紹?；驹恚褐饕诠庾V分析技術(shù)，利用電極放電法或激光脈沖法將樣品激發(fā)產(chǎn)生的光譜信號(hào)進(jìn)行分析計(jì)算，通過(guò)比對(duì)標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)中的數(shù)據(jù)和算法，測(cè)定出樣品中各種元素的含量和比例，以實(shí)現(xiàn)對(duì)金屬合金成分的準(zhǔn)確確定。目前常用的包括光電直讀式光譜儀、等離子體熒光光譜儀、X射線熒光光譜儀等。具有許多功

鍍層測(cè)厚儀使用時(shí)需要注意哪些地方？2023/02/26: 鍍層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的第二次X射線的強(qiáng)度來(lái)測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆](méi)有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí)，測(cè)量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。使用時(shí)需要注意哪些地方？1、注意保持試件表面的清潔和平整鍍層測(cè)厚儀是一個(gè)精密儀器，如果我們要想保證測(cè)量數(shù)據(jù)能夠保持精準(zhǔn)的話，就要保持試件表面的清潔，及時(shí)的清理試件表面的附著物，因?yàn)?

全元素光譜分析儀的構(gòu)成和優(yōu)勢(shì)介紹2023/02/24: 全元素光譜分析儀主要由激光器、光譜儀、探測(cè)器和時(shí)序控制器等核心單元組成，典型的LIBS檢測(cè)系統(tǒng)。其中，激光器為等離子體的激發(fā)源，在樣品表面激發(fā)產(chǎn)生等離子體后，其發(fā)射光被光收集器采集，并通過(guò)光纖傳輸?shù)焦庾V儀形成元素的特征光譜，再由探測(cè)器對(duì)光譜信息進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換，由計(jì)算機(jī)對(duì)光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲(chǔ)、處理和顯示。全元素光譜分析儀的構(gòu)成：一臺(tái)光譜儀主要由一個(gè)光學(xué)平臺(tái)和一個(gè)檢測(cè)系統(tǒng)組成。包括以下幾個(gè)主要部分：1.入射狹縫：在入射光的照射下形成光譜儀成像系統(tǒng)的物點(diǎn)。2.準(zhǔn)直元件：使狹縫發(fā)出的光線變?yōu)槠叫泄?。該?zhǔn)直元件

x射線測(cè)厚儀的特點(diǎn)和各部件功能介紹2023/02/24: x射線測(cè)厚儀的特點(diǎn)：相比同位素測(cè)厚儀信號(hào)噪音大的問(wèn)題，具有信號(hào)噪音非常小的主要優(yōu)點(diǎn)，根據(jù)帶鋼的厚度選擇使用合適的X射線管電壓等級(jí),不同的電壓等級(jí)產(chǎn)生的X射線的能量級(jí)可以對(duì)X射線管進(jìn)行優(yōu)化。此外，X射線在安全方面也同樣優(yōu)于同位素。在生產(chǎn)過(guò)程中，生產(chǎn)線斷帶和停機(jī)不可避免，在這種情況下，X射線可以通過(guò)關(guān)閉快門的方式切斷X射線，有效防止電離輻射對(duì)人體的傷害，保護(hù)生產(chǎn)線上操作人員的安全。而同位素放射源卻無(wú)法關(guān)閉，只有借助防輻射工具被動(dòng)防御輻射對(duì)人體造成的傷害。在放射源處理方面，因?yàn)橥凰胤派湓词褂猛戤吅螅?

關(guān)于膜厚測(cè)試儀的技術(shù)特征和操作說(shuō)明2023/01/26: 膜厚測(cè)試儀用于對(duì)水膜、油膜等各種液體膜厚度的測(cè)量，可以測(cè)量靜態(tài)或動(dòng)態(tài)液膜的厚度。采用觸摸屏控制器顯示和設(shè)置參數(shù)。配備電腦專用軟件，實(shí)時(shí)顯示液膜厚度并以實(shí)時(shí)曲線的形式呈現(xiàn)，可以保存數(shù)據(jù)，查看歷史數(shù)據(jù)，生成報(bào)表。專用于對(duì)水膜、油膜等各種液體膜厚度的測(cè)量，可以測(cè)量靜態(tài)或動(dòng)態(tài)液膜的厚度。采用觸摸屏控制器顯示和設(shè)置參數(shù)。配備電腦專用軟件，實(shí)時(shí)顯示液膜厚度并以實(shí)時(shí)曲線的形式呈現(xiàn)，可以保存數(shù)據(jù)，查看歷史數(shù)據(jù)，生成報(bào)表。膜厚測(cè)試儀的技術(shù)特征：符合GMP管理規(guī)程儀器具有三級(jí)操作權(quán)限，具備數(shù)據(jù)記錄、打印、復(fù)核和輸出

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