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2025
03-07

FR-Scanner-AIO-Mic-XY200: 微米級精度膜厚儀簡介
FR-Scanner-AIO-Mic-XY200是一款自動薄膜厚度測繪系統(tǒng)，光學膜厚儀用于全自動圖案化晶圓上的單層和多層涂層厚度測量。電動X-Y載物臺提供適用尺寸200mmx200mm的行程，可在200-1700nm光譜范圍內(nèi)提供各種光學配置。FR-Scanner-AllInOne-Mic-XY200光學膜厚儀模塊化厚度測繪系統(tǒng)平臺，集成了先進的光學、電子和機械模塊，用于表征圖案化薄膜光學參數(shù)。典型案例包括（但不限于）微圖案表面、粗糙表面等。該機型光學模塊功能強大，可測量的光斑尺寸小至幾微米。真
2025
03-07

分享一些有關(guān)3D劃痕儀的操作方法
3D劃痕儀符合ISO1518，BS3900，ASTMD5178和ASTMD2197相關(guān)標準要求。劃痕儀可測試產(chǎn)品表面涂層的抗劃痕性，如卷材漆，鐵罐油墨，金屬漆，汽車表面涂層等。劃痕儀適用于彩涂板單一涂層或復合涂層的表面耐劃傷性能評定，以一定重量下球形鋼針劃破涂層或球形鋼針未劃破涂層的負重來評定涂層的耐劃傷能力。劃痕儀測試時用一個帶直徑為1mm的半球形劃針，緩慢地接觸被測表面，劃一條約10cm長的劃痕。根據(jù)測試目的和加載的載荷的不同，可觀察到不同程度的穿透，從表面痕跡到*穿透。電機驅(qū)動樣本與劃針輕
2025
03-07

防震臺的應用范圍與行業(yè)分析
防震臺是一款很有名的防振系統(tǒng)。在納米技術(shù)的時代，極之微細的振動已對搜索結(jié)果造成極大的影響，必須改善測量環(huán)境，以發(fā)揮儀器的較佳效能，達到較佳成果。Nanotechnology正在改變，由高層次的研究波及各個行業(yè)的基本生產(chǎn)，要有效地發(fā)展納米技術(shù)，消除振動尤為重要！目前，防震臺的應用范圍：適合用千對振動敏感的測量和試驗機、激光器、刻度盤、光學和電子以及醫(yī)療設備等。新型隔振臺LTH用千振動或者承載載荷可能會干擾試驗或者機器設備的應用場合。防震臺的行業(yè)分析：當今科學界的科學實驗需要越來越精密的計算和測量，
2025
03-07

光學輪廓儀應該怎么用
光學輪廓儀是一種全自動測量設備。操作員只需安裝被測工件，在驗證軟件上設置掃描的開始和結(jié)束位置，點擊“開始”按鈕，測量針就會自動接觸工件表面并根據(jù)設置的位置進行掃描；在輪廓掃描過程中，軟件界面會實時繪制輪廓曲線；掃描后，操作員可以通過輪廓分析工具分析生成的輪廓曲線，以獲得直線度、圓度、角度、距離、間距等輪廓參數(shù)。光學輪廓儀應該怎么用輪廓儀建立在移相干涉測量(PSI)、白光垂直掃描干涉測量(VSI)和單色光垂直掃描干涉測量(CSI)等技術(shù)的基礎(chǔ)上，以其納米級測量準確度和重復性(穩(wěn)定性)定量地反映出被
2025
03-04

高精度主動減振臺的原理探秘
在眾多對振動控制要求較高的領(lǐng)域，如精密儀器制造、光學實驗、航空航天等，高精度主動減振臺發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。那么，它是基于怎樣的原理來實現(xiàn)高效減振的呢？高精度主動減振臺的核心原理是實時監(jiān)測和主動控制。它主要由傳感器、控制器、作動器和支撐結(jié)構(gòu)等關(guān)鍵部件組成。1.傳感器是主動減振臺的“感知器官”。它能夠敏銳地感知臺面上被支撐物體所受到的振動信息，包括振動的幅度、頻率、方向等參數(shù)。常見的傳感器有加速度傳感器等，它們可以將振動信號轉(zhuǎn)換為電信號，并將這些信號準確地傳遞給控制器。2.控制器則是整個系統(tǒng)的“大
2025
02-25

解析折射率測量儀：光學物性檢測的關(guān)鍵設備
在現(xiàn)代科學和工業(yè)領(lǐng)域，對物質(zhì)光學性質(zhì)的精準檢測至關(guān)重要。而折射率測量儀，作為一種非常重要的光學物性檢測設備，發(fā)揮著不可替代的作用。折射率測量儀的核心原理基于光的折射現(xiàn)象。當光線從一種介質(zhì)進入另一種介質(zhì)時，其傳播方向會發(fā)生改變，折射率就是描述這種變化程度的物理量。該儀器通過精確測量光在不同介質(zhì)中的折射角度或折射光的光強分布等信息，進而計算出物質(zhì)的折射率。在科學研究方面，折射率測量儀有著廣泛的應用。例如在材料科學中，它可以幫助研究人員探究各種新型材料的光學特性。不同材料的折射率差異反映了其內(nèi)部原子排
2025
02-24

光學膜厚測量儀的工作原理與優(yōu)勢
光學膜厚測量儀的工作原理與優(yōu)勢分析如下：工作原理光學膜厚測量儀的工作原理主要基于光的干涉和反射原理。當光源發(fā)出的光波照射到被測膜層時，一部分光波會在膜層表面反射，另一部分光波會穿透膜層并在膜層與基底的界面上反射回來。這兩部分反射光波會在探測器位置發(fā)生干涉，形成干涉圖樣。通過測量干涉圖樣的變化，可以計算出光波的相位差，進而推算出膜層的厚度。具體來說，相位差與膜厚度之間存在一定的數(shù)學關(guān)系，通過這一關(guān)系可以精確地求出膜層的厚度。優(yōu)勢高精度：光學膜厚測量儀采用非接觸式測量方法，避免了機械接觸對膜層的損傷
2025
02-20

紅外激光測厚儀使用指南：精準測量，輕松掌握
紅外激光測厚儀作為一種非接觸式測量儀器，以其高精度、高效率的特點，廣泛應用于薄膜、涂層、金屬板材等材料的厚度測量。為了幫助您更好地使用紅外激光測厚儀，本文將詳細介紹其使用方法，助您輕松掌握測量技巧。一、使用前的準備工作1.儀器校準：使用前，務必使用標準厚度片對儀器進行校準，確保測量精度。按照說明書操作，選擇合適的標準片，并進行多點校準，以減小誤差。2.環(huán)境選擇：選擇溫度適宜、濕度適中、無強光直射和強電磁干擾的環(huán)境進行測量，避免環(huán)境因素影響測量結(jié)果。3.樣品準備：清潔被測樣品表面，去除油污、灰塵等
2025
01-17

膜厚測量儀的操作規(guī)范與安全注意事項
膜厚測量儀是科研、工業(yè)生產(chǎn)及質(zhì)量控制等領(lǐng)域中用于精確測量薄膜、涂層或其他薄層材料厚度的關(guān)鍵工具。為確保測量結(jié)果的準確性和操作人員的安全，使用儀器時必須嚴格遵守操作規(guī)范和安全注意事項。在操作規(guī)范方面，首先需根據(jù)被測材料的類型和應用場景選擇合適的膜厚測量儀。例如，磁性的適用于測量鋼鐵等磁性金屬基底上的非磁性涂層，而渦流的則適用于非磁性金屬上的涂層測量。在使用前，必須對儀器進行校準，確保測量數(shù)據(jù)的準確性。校準時應使用已知厚度的標準樣品，按照儀器說明書進行操作。在實際測量過程中，需確保被測表面清潔無污染
2025
01-16

晶圓水平儀技術(shù)解析：從原理到應用的全面探討
晶圓水平儀是半導體制造中的高精度測量工具。其工作原理基于精密的傳感器和算法，能夠?qū)崟r測量晶圓表面的微小起伏，確保晶圓在加工過程中的水平狀態(tài)。晶圓水平儀的核心在于其高精度的傳感器。這些傳感器能夠捕捉到晶圓表面微小的傾斜或不平整，通過算法處理后將結(jié)果反饋給制造設備。制造設備再根據(jù)這些反饋信息對晶圓進行微調(diào)，確保其在整個加工過程中始終保持水平。在實際應用中，晶圓水平儀的作用至關(guān)重要。在半導體制造過程中，晶圓的表面平整度對芯片的制造工藝有著嚴格的要求。任何微小的瑕疵都可能導致芯片制造的失敗，進而影響整個
2025
01-09

膜厚測量儀：精確測量薄層材料厚度的關(guān)鍵工具
膜厚測量儀是一種廣泛應用于科研、工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量控制領(lǐng)域的精密儀器，其主要功能在于準確測量薄膜、涂層或其他薄層材料的厚度。這種儀器在多個行業(yè)中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用，為產(chǎn)品的性能評估和質(zhì)量控制提供了有力支持。膜厚測量儀的工作原理基于多種物理現(xiàn)象，包括光學干涉、電磁感應、渦流效應等。光學干涉法通過測量光波在薄膜表面和底部之間反射和透射的相位差來計算厚度；電磁感應法則利用測頭經(jīng)過非鐵磁覆層時流入鐵磁基體的磁通大小來測定覆層厚度；渦流法則通過測量高頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生的電磁場變化來推算薄膜厚度。這些
2024
12-27

電鏡防振臺一款消除低頻共振干擾的儀器
在科研和工業(yè)檢測領(lǐng)域，電子顯微鏡作為探索微觀世界的得力工具，其性能的穩(wěn)定性和精確度至關(guān)重要。然而，在實際應用中，電子顯微鏡往往會受到各種振動干擾，尤其是低頻共振頻率的干擾，這會嚴重影響其成像質(zhì)量和測量精度。為了有效應對這一問題，電鏡防振臺應運而生，成為消除低頻共振干擾的利器。電鏡防振臺的設計原理主要基于振動控制和穩(wěn)定技術(shù)，它結(jié)合了主動隔振和被動隔振兩種技術(shù)，以最大限度地減少外界振動對電子顯微鏡的影響。主動隔振技術(shù)通過內(nèi)置的傳感器實時監(jiān)測外部振動情況，一旦探測到異常的震動，就會立即將這些信息轉(zhuǎn)化為
2024
12-23

晶圓水平儀在半導體制造中的應用
晶圓水平儀在半導體制造中扮演著至關(guān)重要的角色。作為一種精密的測量工具，晶圓水平儀主要用于測量和調(diào)整晶圓表面的平整度，確保半導體制造過程中的精確度和穩(wěn)定性。在半導體制造過程中，晶圓是制造半導體集成電路的基礎(chǔ)材料。晶圓的表面平整度對芯片的制造工藝有著嚴格的要求，任何微小的瑕疵都可能導致芯片制造的失敗。因此，晶圓水平儀的使用成為確保晶圓質(zhì)量的關(guān)鍵步驟。晶圓水平儀通過高精度的傳感器和算法，能夠?qū)崟r測量晶圓表面的微小起伏，并將測量結(jié)果反饋給制造設備。制造設備根據(jù)反饋信息進行微調(diào)，確保晶圓在加工過程中始終保
2024
11-26

晶圓鍵合技術(shù)的新趨勢
1.概述由于光刻的延遲和功率限制的綜合影響，制造商無法水平縮放，因此制造商正在垂直堆疊芯片設備，含三維集成技術(shù)。由于移動設備的激增推動了對更小電路尺寸的需求，這已變得至關(guān)重要，但這種轉(zhuǎn)變并不總是那么簡單。三維集成方案可以采用多種形式，具體取決于所需的互連密度。圖像傳感器和高密度存儲器可能需要將一個芯片直接堆疊在另一個芯片上，并通過硅通孔連接，而系統(tǒng)級封裝設計可能會將多個傳感器及其控制邏輯放在一個重新分配層上。2.業(yè)內(nèi)行情EVGroup業(yè)務發(fā)展總監(jiān)ThomasUhrmann認為，對于設計師來說，關(guān)
2024
11-26

單頻和雙頻激光干涉儀分別是如何測量的？
激光干涉儀是利用激光作為長度基準，對數(shù)控設備（加工中心、三座標測量機等）的位置精度（定位精度、重復定位精度等）、幾何精度（俯仰扭擺角度、直線度、垂直度等）進行精密測量的精密測量儀器。激光干涉儀有單頻的和雙頻的兩種。單頻激光干涉儀從激光器發(fā)出的光束，經(jīng)擴束準直后由分光鏡分為兩路，并分別從固定反射鏡和可動反射鏡反射回來會合在分光鏡上而產(chǎn)生干涉條紋。當可動反射鏡移動時，干涉條紋的光強變化由接受器中的光電轉(zhuǎn)換元件和電子線路等轉(zhuǎn)換為電脈沖信號，經(jīng)整形、放大后輸入可逆計數(shù)器計算出總脈沖數(shù)，再由電子計算機按計
2024
11-26

光學光刻技術(shù)（Optical lithography）
1.簡介光學光刻（Opticallithography），也稱為光學平版印刷術(shù)或紫外光刻，是在其他處理步驟（例如沉積，蝕刻，摻雜）之前用光刻膠對掩模和樣品進行構(gòu)圖的方法。2.設備（接近式光刻機）2.1HMDS及涂膠1)標準旋轉(zhuǎn)工藝中包括HMDS蒸汽預處理2)烤箱-批量處理多個晶圓3)HMDS也可以在手動旋轉(zhuǎn)器上旋轉(zhuǎn)涂布4）涂膠機上進行光刻膠的涂布2.2對準接觸光刻1)光刻前的對準2)對準器——處理具有對準圖形的晶圓3)EVG610等掩模對準機——尺寸從碎片到12”晶圓4)曝光機——光刻膠曝光2.
2024
11-13

防震臺VC微振等級判定及其重要性
防震臺作為科研實驗和精密設備中至關(guān)重要的重要設施，廣泛應用于各種高精度測試與實驗中。為了確保測試結(jié)果的準確性和設備的穩(wěn)定性，其微振控制成為了一個至關(guān)重要的因素。VC微振等級判定就是衡量防震臺抗震和微振能力的重要指標之一。本文將圍繞它的VC微振等級判定進行探討，分析其原理、方法以及應用。1.VC微振等級的定義與作用VC（VibrationControl）微振等級是指防震臺在工作過程中，對于微振的抑制能力。微振是指在較低頻率范圍內(nèi)的微小震動，通常頻率在1Hz到200Hz之間。對于某些高精度儀器和實驗
2024
11-01

動態(tài)激光干涉儀的應用及作用
動態(tài)激光干涉儀是一種高精度的光學測量儀器，主要用于測量光學元件的表面形貌、材料的熱膨脹系數(shù)、機械應力場等。該儀器基于干涉原理，通過激光光束的干涉效應來實現(xiàn)對被測對象的測量和分析。它廣泛應用于工業(yè)生產(chǎn)、科學研究、醫(yī)學診斷等領(lǐng)域，具有高精度、快速、非接觸等優(yōu)點。1.在工業(yè)生產(chǎn)中，動態(tài)激光干涉儀可以用于檢測光學元件的表面平整度、曲率半徑、波前畸變等參數(shù)。通過對光學元件的表面形貌進行測量和分析，可以有效地控制生產(chǎn)過程，提高產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。此外，儀器還可以用于檢測機械零件的形狀和尺寸，實現(xiàn)對工件的精密加
2024
11-01

如何選購一款合適的晶圓水平儀
晶圓水平儀是一種用于測量和調(diào)整晶圓表面平整度的重要設備，在半導體制造、光學元件生產(chǎn)等領(lǐng)域具有廣泛的應用。以下是詳細的選購要點描述：1.精度要求-測量精度：晶圓水平儀的核心指標是其測量精度。高精度的晶圓水平儀能夠提供更準確的平整度數(shù)據(jù)，對于半導體制造等對精度要求很高的領(lǐng)域尤為重要。在選擇時，需要根據(jù)實際應用場景確定所需的測量精度，并選擇滿足該精度要求的晶圓水平儀。-重復性：除了測量精度外，晶圓水平儀的重復性也是一個重要的考慮因素。良好的重復性意味著在多次測量中，晶圓水平儀能夠提供穩(wěn)定且一致的測量結(jié)
2024
10-09

電容式位移傳感器的校準流程
電容式位移傳感器是一種基于電容原理工作的精密測量儀器，廣泛應用于各種工業(yè)領(lǐng)域，如振動監(jiān)測、距離測量、液位檢測等。由于其高精度和快速響應的特點，電容式位移傳感器在校準過程中需要特別細致和精確。以下是關(guān)于電容式位移傳感器的校準方式的描述：一、校準前的準備工作1.了解傳感器規(guī)格：在開始校準之前，首先需要詳細了解電容式位移傳感器的技術(shù)規(guī)格，包括測量范圍、靈敏度、線性度、重復性等關(guān)鍵參數(shù)。這些信息將有助于確定校準的具體步驟和方法。2.準備標準器具：為了進行準確的校準，需要準備一些高精度的標準器具，如標準尺

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