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鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的必要手段。隨著技術(shù)的日益進步，特別是近年來引入微機技術(shù)后，采用X射線鍍層測厚儀 向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量精度可達到相對誤差±1.5%（1微米厚度）,±0.01%(成分)，與傳統(tǒng)的磁性測厚儀相比，性能上有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且性價比高，是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。
工作原理：
鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。
應用領(lǐng)域：
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種飾的含量檢測。
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
貴金屬加工和飾加工行業(yè)；銀行，飾銷售和檢測機構(gòu)；電鍍行業(yè)。
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