顧名思義高低溫試驗(yàn)箱，可將箱體溫度設(shè)置在高溫和低溫的條件下進(jìn)行試驗(yàn)，從而進(jìn)一步測(cè)量和記錄這個(gè)溫度下的精確數(shù)據(jù)。通常，實(shí)驗(yàn)材料需要在各種不同的環(huán)境中進(jìn)行多次試驗(yàn)，以檢驗(yàn)更準(zhǔn)確的實(shí)驗(yàn)值，如原材料的耐干燥性和耐熱性。

　　在各項(xiàng)試驗(yàn)中高低溫試驗(yàn)箱的使用范圍廣，其包含的產(chǎn)品種類很多，是模擬各種環(huán)境溫度下產(chǎn)品環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)所必需的硬件實(shí)驗(yàn)設(shè)備。用于測(cè)試手機(jī)、塑料制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航天等產(chǎn)品的質(zhì)量，可以說我們的生活與之密切相關(guān)。例如，我們?nèi)粘Ｉ钪惺褂玫氖謾C(jī)，作為一種快速反應(yīng)的電子產(chǎn)品，所需的電子元件非常敏感，以便做出快速反應(yīng)。此時(shí)，高低溫試驗(yàn)箱需要對(duì)電子元件進(jìn)行嚴(yán)格的篩選。雖然嚴(yán)格的篩選一開始就會(huì)損失部分成本，但由于電子元件對(duì)溫度和濕度的要求非常嚴(yán)格，一旦溫度和濕度發(fā)生變化，不符合要求，電子元件的使用壽命將逐漸降低。

　　在近年來興起的半導(dǎo)體行業(yè)中，也有高低溫試驗(yàn)箱。當(dāng)半導(dǎo)體在SMT過程中加熱時(shí)，表面會(huì)形成水蒸氣，然后產(chǎn)生壓力，導(dǎo)致IC樹脂包裝開裂。一旦IC樹脂開裂，包裹在內(nèi)部的金屬就會(huì)被氧化，導(dǎo)致產(chǎn)品故障。你知道，它是用樹脂密封的，因?yàn)樗ε卵趸３睗竦牟考枰旁谝欢穸认碌母稍锵渲幸欢螘r(shí)間，干燥時(shí)間遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于潮濕時(shí)間。