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Fischerscope x-ray xan120熒光x射線測(cè)厚儀
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN系列配置多樣，能夠滿足十分普遍的應(yīng)用。它在快速精確剖析和用戶友好操作方面具備特殊的優(yōu)勢(shì)，如用于貴金屬和金合金的剖析。也能夠用于電子和線路板行業(yè)薄鍍層剖析。一切型號(hào)的硬件部件的裝置位置相同。X射線管和探測(cè)器位于丈量室的下方。丈量方向從下到上。這樣就能夠快速便當(dāng)?shù)胤胖脴悠贰AN系列儀器依據(jù)X射線管，探測(cè)器，準(zhǔn)直器和濾片數(shù)目的不同有幾個(gè)版本可供選擇。因而，XAN系列能夠?yàn)楦鞣N應(yīng)用和精度請(qǐng)求提供*優(yōu)的處理計(jì)劃，同時(shí)具備良好的本錢效益。XAN儀器的分類中也包括硬件和軟件特地設(shè)計(jì)用于滿足珠寶行業(yè)和黃金行業(yè)特別需求的型號(hào)。
典型應(yīng)用領(lǐng)域：
珠寶和手表行業(yè)金和貴金屬分析
測(cè)量幾個(gè)納米的*薄鍍層，如印刷線路板和電子元件上的Au和Pd。
痕量分析（如電子元件(RoHS)或工具中的有害物質(zhì)）
用XAN 150分析諸如Al，Si，P等輕元素
實(shí)驗(yàn)室，測(cè)試機(jī)構(gòu)和大學(xué)里一般性的材料分析和鍍層厚度測(cè)量
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