1、故障現(xiàn)象:X射線發(fā)生器的高壓開(kāi)不起來(lái)。
故障分析:
一般發(fā)生在開(kāi)機(jī)時(shí),偶爾也發(fā)生在儀器運(yùn)行中。故障的產(chǎn)生原因可以從三個(gè)方面去分析:1、X射線防護(hù)系統(tǒng);2、內(nèi)部水循環(huán)冷卻系統(tǒng);3、高壓發(fā)生器及X射線光管。
2、故障現(xiàn)象:光譜室和樣品室的真空抽不到規(guī)定值。
故障分析:
通常在真空光路條件下工作,但光譜室和樣品室有很多部位與外部相連,可能漏氣的部位很多。檢查真空故障時(shí),將可能出問(wèn)題的地方人為分隔為三部分:真空泵、樣品室、光譜室,對(duì)這三部分逐一檢查以縮小范圍。
3、故障現(xiàn)象:計(jì)數(shù)率不穩(wěn)定。
故障分析:
常用探測(cè)器有二個(gè):流氣計(jì)數(shù)器和閃爍計(jì)數(shù)器。閃爍計(jì)數(shù)器很穩(wěn)定,問(wèn)題常出現(xiàn)在流氣計(jì)數(shù)器上。
4、故障現(xiàn)象:掃描時(shí),發(fā)現(xiàn)峰形不光滑,有小鋸齒狀。
故障分析:
晶體是儀器內(nèi)脆弱的部件,盡量不要用手接觸衍射面,如果手或其他東西碰到了晶體的衍射面,就會(huì)污染晶體,手上的汗或其他物質(zhì)滲到晶體的表面,使晶體表面的晶格間距發(fā)生變化,而X射線熒光的衍射主要發(fā)生在晶體的表面,因此造成2θ掃描的峰形不光滑。
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