手機版
化工儀器網手機版
化工儀器網小程序
官方微信
公眾號：chem17
掃碼關注視頻號
X熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析。基于微軟中文視窗系統(tǒng)的中文版應用軟件包，實現了對CMI主機的全面自動化控制，分析中不需要任何手動調整或手動參數設定。可同時測定多種元素。數據統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足特定分析報告格式要求；如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計功能提供數據平均值、誤差分析、大值、小值、數據變動范圍、相對偏差等多種數據分析模式。
X熒光測厚儀采用二次熒光法：它的原理是物資經X射線或粒子射線照射后，由于吸收過剩的能量而釀成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物資必需將過剩的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度丈量儀或成份分析儀的原理就是丈量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。
X熒光測厚儀性能特點
1、滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
2、0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
3、高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
4、采用高度定位激光，可自動定位測試高度
5、定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
6、鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
7、高分辨率探頭使分析結果更加精準
8、良好的射線屏蔽作用
9、測試口高度敏感性傳感器保護
相關產品
免責聲明
- 凡本網注明“來源：化工儀器網”的所有作品，均為浙江興旺寶明通網絡有限公司-化工儀器網合法擁有版權或有權使用的作品，未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經本網授權使用作品的，應在授權范圍內使用，并注明“來源：化工儀器網”。違反上述聲明者，本網將追究其相關法律責任。
- 本網轉載并注明自其他來源（非化工儀器網）的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網贊同其觀點和對其真實性負責，不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網站或個人從本網轉載時，必須保留本網注明的作品第一來源，并自負版權等法律責任。
- 如涉及作品內容、版權等問題，請在作品發(fā)表之日起一周內與本網聯系，否則視為放棄相關權利。
采購中心