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日本理學波長色散型熒光光譜儀四大優(yōu)勢特點

來源:廣州儀德精密科學儀器股份有限公司   2020年03月16日 16:29  

日本理學波長色散型X射線熒光光譜儀(WD-XRF,簡稱理學波譜)一般由光源(X-射線管)、樣品室、分光晶體和檢測系統(tǒng)等組成。為了準確測量衍射光束與入射光束的夾角,分光晶體系安裝在-一個精密的測角儀上,還需要一龐大而精密并復(fù)雜的機械運動裝置。由于晶體的衍射,造成強度的損失,要求作為光源的X射線管的功率要大,一般為2~3千瓦。但X射線管的效率低,只有1%的電功率轉(zhuǎn)化為X射線輻射功率,大部分電能均轉(zhuǎn)化為熱能產(chǎn)生高溫,所以X射線管需要專門的冷卻裝置(水冷或油冷),因此波譜儀的價格往往比能譜儀高。

 

能量色散型熒光光譜儀(DE-XRF),一般由光源(X-射線管)、樣品室和檢測系統(tǒng)等組成,與波長色散型熒光光儀的區(qū)別在于它不用分光晶體。由于這一特點,使能量色散型熒光光儀具有如下的優(yōu)點:

 

日本理學波長色散型熒光光譜儀四大優(yōu)勢特點

 

1、儀器結(jié)構(gòu)簡單,省略了晶體的精密運動裝置,也無需精確調(diào)整。還避免了晶體衍射所造成的強度損失。光源使用的X射線管功率低,一般在100W以下,不需要昂貴的高壓發(fā)生器和冷卻系統(tǒng),空氣冷卻即可,節(jié)省電力。

 

2、能量色散形熒光光儀的光源、樣品、檢測器彼此靠得很近,X射線的利用率很高,不需光學聚集,在累積整個光譜時,對樣品位置變化不象波長色散型熒光光儀那樣敏感,對樣品形狀也無特殊要求。

 

3、在能量色散譜儀中,樣品發(fā)出的全部特征X射線光子同時進入檢測器,這就奠定了使用多道分析器和熒光屏同時累積和顯示全部能譜(包括背景)的基礎(chǔ),也能清楚地表明背景和干擾線。因此,半導體檢測器X射線光譜儀能比晶體X射線光譜儀快而方便地完成定性分析工作。

 

4、能量色散法的一個附帶優(yōu)點是測量整個分析線脈沖高度分布的積分程度,而不是峰頂強度。因此,減小了化學狀態(tài)引起的分析線波長的漂移影響。由于同時累積還減小了儀器的漂移影響,提高凈計數(shù)的統(tǒng)計精度,可迅速而方便地用各種方法處理光譜。同時累積觀察和測量所有元素,而不是按特定譜線分析特定元素。因此,減小了偶然錯誤判斷某元素的可能性。

 

看了以上四大特點的介紹是否已經(jīng)對日本理學X射線熒光光譜儀有了一定的了解,關(guān)注儀德公司可提前獲取更多理學波譜的相關(guān)知識。

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