全新的徠卡清潔度解決方案：快速識別污染源

這樣有什么意義呢？

您可在數(shù)秒鐘內(nèi)掌握相關(guān)信息，找出影響產(chǎn)品性能和壽命的顆粒物的來源。您可更快地消除這些顆粒物，以符合日趨嚴(yán)格的 VDA 19 和 ISO 標(biāo)準(zhǔn)。在定位顆粒物來源上節(jié)省時間也能促成更具經(jīng)濟效益的清潔度分析。

全新徠卡清潔度解決方案帶給您的優(yōu)勢：

• 利用快捷的化學(xué)分析更快地找出污染源
• 在內(nèi)部完成步驟，省時省錢
• 盡量減少甚至不用 SEM/EDS 進(jìn)行深入分析
  - 無需額外的濾片樣品制備或轉(zhuǎn)移到其它設(shè)備
  - 無需重新定位感興趣區(qū)域或調(diào)節(jié)系統(tǒng)

更快更輕松地執(zhí)行清潔度分析。請在網(wǎng)站上進(jìn)一步了解我們?nèi)碌那鍧嵍葘＜壹?LIBS 二合一解決方案。或者也可聯(lián)系當(dāng)?shù)氐膹瓶@微系統(tǒng)有限公司銷售代表了解詳情。

產(chǎn)品詳情

清潔度檢測儀 LIBS，LIBS無需樣品制備，減少的材料分析時間。

清潔度檢測設(shè)備<span style="box-sizing: border-box;" font-size:18px;"="">，金相顯微鏡，汽車部件清潔度檢測設(shè)備，元素分析儀徠卡清潔度檢測儀與顆粒元素分析一體機。

DM6M LIBS激光誘導(dǎo)光譜復(fù)合式顯微鏡
 

　　  簡介：
 

　　(1) 1 秒即可獲得化學(xué)元素圖譜，可節(jié)省 90% 的時間：目視和化學(xué)材料檢驗二合一
 

　　   將目視檢驗和定性化學(xué)檢驗組合在一個工作步驟中，與使用傳統(tǒng) SEM/EDS 檢驗相比，測定微觀結(jié)構(gòu)成分的時間可節(jié)省 90%。
 

　　(2)微觀結(jié)構(gòu)成分分析解決方案： DM6 M LIBS集成激光光譜功能可在一秒鐘內(nèi)針對您在顯微鏡中看到的材料結(jié)構(gòu)提供準(zhǔn)確的化學(xué)元素圖譜。
 

　　  (3)無需樣品制備
 

　　  只需一次單擊，即可準(zhǔn)確檢查通過目鏡或攝像頭觀察的物質(zhì)，從而快速簡單的識別和解釋。操作員不需要額外的專業(yè)知識。
 

　　實現(xiàn)快速材料分析的二合一系統(tǒng)
 

　　DM6 M LIBS 的集成激光光譜功能可在一秒鐘內(nèi)提供在顯微鏡圖像中所觀察微觀結(jié)構(gòu)的化學(xué)成分。
 

　　識別感興趣的微觀結(jié)構(gòu)成分，隨后只需單擊一下，即可觸發(fā) LIBS 分析。
 

　　優(yōu)勢概覽
 

　　與典型的電鏡方法*相比，節(jié)省 90% 的時間，而且
 

　　以可靠的目視和化學(xué)檢驗材料信息為基礎(chǔ)，快速做出自信的決策。
 

*可根據(jù)要求提供證明

無需 SEM 樣品制備
 

　　為什么使用 DM6 M LIBS 解決方案進(jìn)行材料分析能節(jié)省 90% 的時間？因為這種解決方案：
 

　　無需樣品制備和轉(zhuǎn)移；
 

　　無需系統(tǒng)調(diào)節(jié)；且
 

　　無需重新定位感興趣區(qū)域 (ROI)。
 

　　減少工作流程
 

　　將工作流程精簡至只有一個步驟，以結(jié)果為重點。
 

關(guān)于使用 DM6 M LIBS 進(jìn)行成分分析的更多信息，請參考本應(yīng)用說明。
 

迅速決定該做什么
 

　　將多種工具組合起來分析樣品的顯微結(jié)構(gòu)成分，將在一秒鐘內(nèi)獲得元素信息，助您做出正確的決策。
 

　　在 90% 以上的情況下，用戶都能獲得足夠的數(shù)據(jù)，對下一步行動做出自信的決策 (例如，是否需要使用 SEM 進(jìn)行更詳細(xì)的分析來確認(rèn)污染源)。*
 

　　*基于用戶反饋
 

　　組件清潔度分析
 

　　DM6 M LIBS 二合一系統(tǒng)與 Cleanliness Expert 分析軟件相結(jié)合，讓您僅使用一臺儀器和一個工作流程即可對過濾器上的樣品進(jìn)行目視和化學(xué)檢驗。
 

　　這樣可以更輕松地找到污染源。
 

　　做出自信的決策
 

通過快速獲取顆粒成分和結(jié)構(gòu)的數(shù)據(jù)，您將得到在分析過程中更加迅速地做出自信決策的優(yōu)勢。

微觀結(jié)構(gòu)成分的評估
 

　　DM6 M LIBS 二合一解決方案可助您執(zhí)行物相的結(jié)構(gòu)和元素/化學(xué)分析，例如礦石、合金、陶瓷等。
 

　　無需進(jìn)行樣品制備，也無需在 2 個或更多設(shè)備之間進(jìn)行轉(zhuǎn)移。整個分析工作流程全部在一臺儀器上完成。
 

　　zui大程度減少占用人力資源的樣品制備
 

　　zui大程度減少占用人力資源的樣品制備和成本高昂的 SEM/EDS 分析，從而節(jié)省時間和資金。
 

　　材料的深度剖面圖和層次分析
 

　　LIBS 的消融原理可被運用于材料的微型打孔。
 

　　微型打孔可應(yīng)用于諸如：
 

　　深度剖面
 

　　層次分析
 

　　表面清潔。
 

　　在測定一種材料的成分是否隨著深入該材料其中的深度而改變時，深度剖面非常有用。
 

　　層次分析可用于查找一種材料中每一層的成分。比如多層鍍膜或噴漆的金屬，都屬于層狀材料。
 

利用表面清潔可以去除氧化物和污染。

LIBS：您的化學(xué)分析研究利器
 

　　DM6 M LIBS 解決方案運用激光誘導(dǎo)擊穿光譜 (LIBS) 使定性化學(xué)分析成為可能。
 

　　單擊即可觸發(fā)分析，激光將穿透樣品上的瞄準(zhǔn)點。一個等離子體將會產(chǎn)生，然后分解。產(chǎn)生的特征光譜顯示材料中的元素的分布圖譜。
 

　　軟件將圖譜與已知的元素和化合物數(shù)據(jù)集進(jìn)行對比，從而確定微觀結(jié)構(gòu)的成分。數(shù)據(jù)集可以隨著用戶獲得的具體材料結(jié)果得到擴充。