X熒光光譜儀的優(yōu)缺點

　　優(yōu)點:

 　　a） 分析速度高。測定用時與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。

 　　b） X射線熒光光譜（ROHS檢測儀）跟樣品的化學結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。

 　　c） 非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好。

 　　d） X射線熒光分析（ROHS檢測儀）是一種物理分析方法，所以對在化學性質(zhì)上屬同一族的元素也能進行分析。

 　　e） 分析精密度高。

 　　f） 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。

 　　缺點：

 　　a）難于作分析，故定量分析需要標樣。

 　　b）對輕元素的靈敏度要低一些。

 　　c）容易受相互元素干擾和疊加峰影響。

 　　X熒光光譜儀（ROHS檢測儀）有兩種基本類型：波長色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF）。

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