因?yàn)榉垠w形態(tài)各異，在借助激光粒度儀測(cè)試的同時(shí)，選用JX-2000B型圖像分析儀，能更準(zhǔn)確直觀粒度形貌，控制分析好產(chǎn)品質(zhì)量。該系統(tǒng)由光學(xué)顯微鏡、USB攝像頭、圖像分析軟件、電腦、打印機(jī)等部分組成。

指標(biāo)與性能  

1、測(cè)試范圍：0.5～3000μm

2、zui大放大倍數(shù)：4000倍

3、zui大分辨率：0.1μm

4、數(shù)字?jǐn)z像頭(CCD)：300或500萬像素

5、顯微鏡：配置透反射顯微鏡（帶有金相功能）

6、標(biāo)尺刻度：10μm

7、分析項(xiàng)目：粒度分布、長徑比分布、圓形度分布等

8、接口方式： USB方式

適用領(lǐng)域  

1、 粉體材料：金剛石、碳化硅、硅灰石、石英粉、硫酸鋇、石墨、鈷酸鋰、碳化硼、白剛玉、氧化鈰云母粉、碳粉、金屬粉等各種礦粉。

2、固體材料：陶瓷片表面晶體結(jié)構(gòu)，金屬、合金表面晶形結(jié)構(gòu)，其它不透光物體表面晶體結(jié)構(gòu)。

3、 用于驗(yàn)證其他粒度測(cè)試的手段和方法。

儀器特點(diǎn)  

軟件功能強(qiáng)大，可根據(jù)行業(yè)特殊要求，設(shè)計(jì)磨料、硅灰石等軟件。采用全平場消色差物鏡，zui大分辨率0.07微米，zui大光學(xué)放大倍數(shù)1600倍，圖像打印zui大倍數(shù)4000倍，還可根據(jù)需要輸出多種格式的測(cè)試報(bào)告。

測(cè)試報(bào)告：