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CEM華盛昌DT-156涂鍍層測厚儀,絕緣涂鍍層測厚儀,二合一測厚儀
產(chǎn)品系列
DT-156涂鍍層測厚儀探頭可以工作在電磁感應(yīng)和渦流兩種原理下。在自動模式（AUTO）下，兩種原理可視測量的基體自動轉(zhuǎn)換，或可通過菜單進(jìn)行自動模式和非自動模式轉(zhuǎn)換。
特性
1、可測量涂鍍層：
①磁性物質(zhì)表面的非磁性涂鍍層厚度
②非磁性金屬表面的絕緣涂鍍層厚度
2、豐富的操作菜單
3、連續(xù)和單次測量方式
4、直接工作模式和組工作模式
5、可統(tǒng)計并顯示：平均值、zui大值、zui小值、標(biāo)準(zhǔn)方差、統(tǒng)計數(shù)
6、可進(jìn)行一點(diǎn)或兩點(diǎn)校準(zhǔn)
7、可保存400個測量數(shù)據(jù)
8、USB連接并將數(shù)據(jù)傳輸至電腦
9、實(shí)時刪除測量數(shù)據(jù)和組數(shù)據(jù)
10、紅寶石探頭
11、低電和錯誤提示
12、可設(shè)置的自動關(guān)機(jī)功能
技術(shù)指標(biāo)
| 傳感器探頭 | 鐵磁性 | 非鐵磁性 |
| 工作原理 | 磁感應(yīng) | 渦流 |
| 測量范圍 | 0~1250μm | 0~1250μm |
| 度 | ±3%+1μm | ±3%+1.5μm |
| 分辨率 | 0.1μm | 0.1μm |
| zui小曲率半徑 | 1.5mm | 3mm |
| zui小測量面積（直徑） | 7mm | 5mm |
| 可測量基體zui小厚度 | 0.5mm | 0.3mm |
尺寸：113.5*54*27mm
重量：110g
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