許多技術可以檢測納米大小的顆粒，但還不能提供有關粒子組成的信息，并且比較耗費時間和成本。電感耦合等離子體質譜（ICP-MS）具有多元素同時分析的能力，檢出限低且動態(tài)范圍寬，非常適合用于無機工程納米顆粒（ENPs）的測量。有關ENPs特征的更多信息可以通過耦合一個按粒子大小分離的步驟在進行ICP-MS分析之前優(yōu)先進行分析。此應用程序中常用的大小分離技術是場流分離（FFF）技術。由此產(chǎn)生的FFF-ICP-MS的聯(lián)用技術可以提供十億分之一（ppt）數(shù)量級水平的納米粒子的分離，檢測和成分分析的能力。這對納米材料的環(huán)境學調查是至關重要的。
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