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日本Otsuka大塚RE-200高速相位差測量裝置
| 參考價: | 面議 |
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)- 產(chǎn)品型號
- OTSUKA/日本大塚 品牌
- 代理商 廠商性質(zhì)
- 成都市 所在地
訪問次數(shù)：46更新時間：2025-02-22 10:33:53
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- 網(wǎng)址：
- www.fujita-cn.com
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產(chǎn)品簡介
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
產(chǎn)品信息 特 點 可測從0nm開始的低（殘留）相位差 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.) （相當(dāng)于世界快速的0.1秒以下來處理） 無驅(qū)動部，重復(fù)再現(xiàn)性高 設(shè)置的測量項目少，測量簡單...
產(chǎn)品介紹
日本Otsuka大塚RE-200高速相位差測量裝置-成都藤田科技提供
產(chǎn)品信息
特 點
● 可測從0nm開始的低（殘留）相位差
● 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)
（相當(dāng)于快速的0.1秒以下來處理）
● 無驅(qū)動部，重復(fù)再現(xiàn)性高
● 設(shè)置的測量項目少，測量簡單
● 測量波長除了550nm以外，還有各種波長
● Rth測量、方位角測量
（需要option的自動旋轉(zhuǎn)傾斜治具
● 通過與拉伸試驗機(jī)組合，可同時評價膜的偏光特性和光弾性
(本系統(tǒng)屬特注。）
測量項目
● 相位差（ρ[°], Re[nm]）
● 主軸方位角（θ[°]）
● 橢圓率（ε），方位角（γ）
● 三次元折射率（NxNyNz）
用 途
● 位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜
● 樹脂、玻璃等透明、非均質(zhì)材料（玻璃有變形，歪曲等）
原 理
● 什么是RE-200
● RE-200是光子結(jié)晶素子（偏光素子）、CCD相機(jī)構(gòu)成的偏光計測模塊和透過的偏光光學(xué)系相組合，可高速且高精度的測量位相差（相位差）、及主軸方位角。CCD相機(jī)1次快門獲取偏光強(qiáng)度模式，沒有偏光子旋轉(zhuǎn)的機(jī)構(gòu)，系統(tǒng)整體上是屬于小型構(gòu)造，長時間使用也能維持穩(wěn)定的性能。
執(zhí)行擬合/傅立葉變換以計算橢圓度 ε 和方位角 γ 。
產(chǎn)品規(guī)格
型號 | RE series |
|---|---|
樣品尺寸 | 最小10 x 10mm ～大100 x 100mm |
測量波長 | 550nm （標(biāo)準(zhǔn)仕樣）※1 |
相位差測量范圍 | 約0nm ～約1μm |
軸檢出重復(fù)精度 | 0.05°（at 3Σ） ※2 |
檢出器 | 偏光計測模塊 |
測量光斑直徑 | 2.2mm x 2.2mm |
光源 | 100W 鹵素?zé)艋?LED光源 |
本體?重量 | 300(W) x 560(H) x 430（D) mm 、約20kg |
Option
● Rth測量、方位角測量※治具本體（旋轉(zhuǎn)：180° 傾斜：±50°）
● 動旋轉(zhuǎn)傾斜治具
日本Otsuka大塚RE-200高速相位差測量裝置-成都藤田科技提供
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