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日本Otsuka大塚FFT膜厚解析嵌入式檢測儀
| 參考價(jià): | 面議 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)- 產(chǎn)品型號(hào)
- OTSUKA/日本大塚 品牌
- 代理商 廠商性質(zhì)
- 成都市 所在地
訪問次數(shù)：39更新時(shí)間：2025-02-21 15:03:03
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產(chǎn)品簡介
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
產(chǎn)品信息 特 長 薄膜到厚膜的測量范圍、UV~NIR光譜分析 高性能的低價(jià)光學(xué)薄膜量測儀 藉由反射率光譜分析膜厚 完整繼承FE-3000機(jī)種90%的強(qiáng)大功能 無復(fù)雜設(shè)定，操作簡單，短時(shí)...
產(chǎn)品介紹
日本Otsuka大塚FFT膜厚解析嵌入式檢測儀-成都藤田科技提供
產(chǎn)品信息
特 點(diǎn)
● 采用分光干涉法
● 搭載高精度FFT膜厚解析系統(tǒng)（第4834847號(hào)）
● 使用光學(xué)光纖，可靈活構(gòu)筑測量系統(tǒng)
● 可嵌入至各種制造設(shè)備。
● 實(shí)時(shí)測量膜厚
● 可對(duì)應(yīng)遠(yuǎn)程操作、多點(diǎn)測量
● 采用壽命長、安全性高的白色LED光源
測量項(xiàng)目
多層膜厚解析
用 途
光學(xué)薄膜（超硬涂層、AR薄膜、ITO等）
FPD相關(guān)（光刻膠、SOI、SiO2等）
設(shè)備構(gòu)成
單點(diǎn)型
半導(dǎo)體晶圓的面內(nèi)分布測量
玻璃基板的面內(nèi)分布測量
多點(diǎn)型
實(shí)時(shí)測量
流向品質(zhì)管理
真空室適用
導(dǎo)線型
實(shí)時(shí)測量
寬度方向品質(zhì)管理
測量案例
超硬涂層的膜厚解析
設(shè)備構(gòu)成
單點(diǎn)型
半導(dǎo)體晶圓的面內(nèi)分布測量
玻璃基板的面內(nèi)分布測量
多點(diǎn)型
實(shí)時(shí)測量
流向品質(zhì)管理
真空室適用
導(dǎo)線型
實(shí)時(shí)測量
寬度方向品質(zhì)管理
測量案例
超硬涂層的膜厚解析
核心特點(diǎn)：
微區(qū)測量能力：最小光斑直徑3μm，搭配自動(dòng)XY平臺(tái)（200×200mm），實(shí)現(xiàn)晶圓、FPD（如OLED、ITO膜）等微小區(qū)域的精準(zhǔn)厚度分布映射。
跨行業(yè)適用性：專為半導(dǎo)體（SiO?/SiN膜）、顯示面板（彩色光阻）、DLC涂層等行業(yè)設(shè)計(jì)，支持粗糙表面、傾斜結(jié)構(gòu)及復(fù)雜光學(xué)異向性樣品的分析。
安全與擴(kuò)展性：區(qū)域傳感器觸發(fā)防誤觸機(jī)制，獨(dú)立測量頭支持定制化嵌入，滿足在線檢測（inline）與實(shí)驗(yàn)室研發(fā)需求。
日本Otsuka大塚FFT膜厚解析嵌入式檢測儀-成都藤田科技提供
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