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日本Otsuka大塚ZETA粒徑ELSZ-2000ZS測試儀
| 參考價: | 面議 |
具體成交價以合同協(xié)議為準- 產(chǎn)品型號
- OTSUKA/日本大塚 品牌
- 代理商 廠商性質(zhì)
- 成都市 所在地
訪問次數(shù)：34更新時間：2025-02-21 14:19:47
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產(chǎn)品簡介
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 綜合 |
產(chǎn)品信息 特 點 采用了偏光光學系和多通道分光檢出器 有可對應各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板 安全對策和粒子對策，可對應液晶line內(nèi)的檢查設備 測量項目...
產(chǎn)品介紹
日本Otsuka大塚ZETA粒徑ELSZ-2000ZS測試儀-成都藤田科技提供
產(chǎn)品信息
| 型號 | 粒徑測量 | ZETA電位測量 | 分子量測量 | PH滴定測量 |
| ELSZ-2000ZS | ● | ● | ● | ●*1 |
| ELSZ-2000Z | ● | ● | - | ●*1 |
| ELSZ-2000S | ● | - | ● | ●*2 |
選型表
*1：需搭配選配件PH滴定儀 *2：需搭配選配件PH滴定儀和粒徑流動容器
特點
● 新型號高靈敏度APD，提高靈敏度，縮短測量時間
● 通過自動溫度梯度測量可以進行變性、相變溫度分析
● 可以在0 ~ 90℃的寬溫度范圍內(nèi)進行測量
● 增加寬范圍分子量測定和分析功能
● 可對應渾濁的高濃度樣品的粒徑·ZETA電位測定
● 測量樣品池內(nèi)的電滲透流，通過圖譜分析提供高精度的ZETA電位測量結果
● 可對應高鹽濃度溶液的ZETA電位測定
● 可對應小尺寸固體樣品的ZETA電位測量
用途
非常適用于界面化學、無機物質(zhì)、半導體、聚合物、生物學、制藥和醫(yī)學領域的基礎研究和應用研究，不僅對應微小顆粒，還適用于薄膜和平板表面的科學研究。
● 新型功能材料領域
燃料電池相關（碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬）
納米生物相關（納米膠囊、樹枝狀聚合物、DDS、納米生物粒子）、納米氣泡等。
● 陶瓷/著色材料工業(yè)領域
陶瓷（二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等）
無機溶膠的表面改性/分散/聚集控制
顏料的分散/聚集控制（炭黑/有機顏料）
漿料狀樣品
濾光器
浮游選定礦物的捕集材料的收集和研究
● 半導體領域
異物附著在硅晶片表面的原理解析
研磨劑和添加劑與晶片表面的相互作用的研究
CMP漿料的相互作用
● 高分子聚合物/化工領域
乳液（涂料/粘合劑）的分散/聚集控制，乳膠的表面改性（醫(yī)藥/工業(yè)）
聚電解質(zhì)（聚苯乙烯磺酸鹽，聚羧酸等）的功能性研究、功能納米顆粒
紙/紙漿造紙過程控制和紙漿添加劑研究
● 制藥/食品工業(yè)領域
乳液（食品/香料/醫(yī)療/化妝品）分散/聚集控制及蛋白質(zhì)的機能性檢測
脂質(zhì)體/囊泡分散/聚集控制及表面活性劑（膠束）機能性檢測
應用于固體平板樣品池
固體平板樣品池是將固體平板樣品緊密接觸于盒型石英樣品池上方而形成一體的構造。
實測樣品池高度方向各層觀測粒子的電泳移動度，根據(jù)所得到的電滲流Profile可分析出固體表面電滲流速度，進而求得平板樣品表面的ZETA電位。
高濃度樣品的ZETA電位測定原理
分子量測量原理（靜態(tài)光散射法）
靜態(tài)光散射法可以輕松測量分子量。
測量原理為，將光線照射在溶液分子上可以得到散射光，根據(jù)散射光的求取分子量。即利用了大分子可得到強散射光，小分子可得到弱散射光的現(xiàn)象。
實際上，因為濃度不同散射光強度也不同，實測數(shù)點不同濃度溶液的光散射強度，代入以下公式繪制圖示。橫軸為濃度，縱軸為與散射強度Kc/R（θ）相等的倒數(shù)。此方法也被稱為Debye圖示法。
籍由往零濃度（C=0）外插的倒數(shù)求取分子量Mw，并以此初期梯度可求得第二維里系數(shù)A2。
第二維里系數(shù)
表示溶媒中分子間的排斥與吸引程度，更易于觀察溶劑分子的相容性與結晶化現(xiàn)象。
●A2為正時，代表溶劑相容性高，分子間排斥力強，更加穩(wěn)定。
●A2為負時，代表溶劑相容性低，分子間吸引力強，易產(chǎn)生凝集。
●A2=0時，代表溶劑為理想溶劑，此時溫度被稱為理想溫度。排斥與吸引力處于平衡狀態(tài)，易產(chǎn)生結晶化。
產(chǎn)品規(guī)格
產(chǎn)品規(guī)格
| 測量原理 | 粒徑 | 動態(tài)光散射法（光子相關法） |
| ZETA電位 | 電泳光散射法（激光多普勒法） | |
| 分子量 | 靜態(tài)光散射動法 | |
| 光學系統(tǒng) | 粒徑 | 零差光學系 |
| ZETA電位 | 外差光學系 | |
| 分子量 | 零差光學系 | |
| 光源 | 高功率半導體激光器 | |
| 探測器 | 高靈敏度APD | |
| 樣品池 | ZETA電位: 標準池、高濃度樣品池、微量可拋式池 | |
| 粒徑/分子量: 方形池 | ||
| 溫度 | 0~90度（帶梯度功能） | |
| 電源 | 220V±10%, 50/60Hz, 250VA | |
| 尺寸(WDH) | 380(W) X600(D) X210(H) | |
| 重量 | 約22Kg | |
測定項目
ZETA電位 | -200 ~ 200mV |
電氣移動度 | -2X10-5 ~ 2X10-5cm2/V·s |
粒徑 | 0.6nm ~ 10um |
分子量 | 360 ~ 2X107 |
測量范圍
| 測量溫度范圍 | 0 ~ 90℃ |
| 測量濃度范圍 | 粒徑: 0.00001%(0.1ppm) ~ 40%*1 |
| ZETA電位: 0.001% ~ 40% |
*1 （Latex112nm: 0.00001 ～ 10%、膽汁酸: ～ 40%）
日本Otsuka大塚ZETA粒徑ELSZ-2000ZS測試儀-成都藤田科技提供
