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價(jià)格區(qū)間	面議	應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生,化工,綜合

玉崎科學(xué)半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku高精度測角儀

TFXRD-300是一款用于測量大直徑晶圓薄膜的專用X射線衍射工具，可測量薄膜厚度、結(jié)晶度、化合物材料的成分比、外延片的晶格弛豫等。

TFXRD-300 概述

該 XRD 系統(tǒng)適用于所有薄膜 XRD 應(yīng)用，并具有 XY 可移動(dòng)平臺(tái)，可繪制最大 300 mm 的晶圓。

我們的系統(tǒng)可確保您的樣品保持完好無損，使您能夠毫無問題地進(jìn)行額外的實(shí)驗(yàn)和分析。為您的所有研究和開發(fā)需求提供最準(zhǔn)確、可靠的結(jié)果。

它可用于改進(jìn)材料分析、加強(qiáng)質(zhì)量控制和優(yōu)化制造工藝。

確定薄膜、涂層和多層結(jié)構(gòu)的厚度、密度和界面粗糙度。

精確分析晶體取向并控制材料生長和加工，以實(shí)現(xiàn)電子和光電器件所需的性能。

方法	射線衍射 (XRD)、搖擺曲線 (XRC) 和反射法 (XRR)
目的	適用于大型晶圓（200 毫米、300 毫米）的高精度測角儀和全映射 XY 平臺(tái)
技術(shù)	大支架高精度θ-2θ水平測角儀
主要部件	適用于最大 300 mm 晶圓的全映射 XY 平臺(tái)
選項(xiàng)	PhotonMax 高強(qiáng)度 9 kW 旋轉(zhuǎn)對陰極 X 射線源共焦最大通量 800 W 旋轉(zhuǎn)對陰極 X 射線源 HyPix-3000 高能量分辨率 2D HPAD 探測器
控制（電腦）	外部 PC、MS Windows 操作系統(tǒng)、SmartLab Studio II 軟件
機(jī)身尺寸	約 1900（寬）x 2200（高）x 1900（深）毫米
大量的	約1600公斤
電源	3?，200 V，50/60 Hz，30 A（封裝管）或 60 A（9 kW 旋轉(zhuǎn)陽極）