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當(dāng)前位置:玉崎科學(xué)儀器(深圳)有限公司>>Rigaku理學(xué)>>半導(dǎo)體測(cè)量設(shè)備>> XHEMIS TX-3000半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku反射熒光X射線光譜儀
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)XHEMIS TX-3000
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地深圳市
更新時(shí)間:2024-09-29 09:16:07瀏覽次數(shù):149次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku射熒光射線分析儀
半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀
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價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,綜合 |
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半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku反射熒光X射線光譜儀
半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku反射熒光X射線光譜儀
檢測(cè)限LLD(E10原子/cm2) | 鋁 | 鐵 | 鎳 | 銅 |
發(fā)射光譜 | 14 | 0.06 | 0.06 | 0.09 |
測(cè)量時(shí)間:1000秒
方法 | 全內(nèi)反射X射線熒光分析(TXRF) | |
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目的 | 快速無(wú)損測(cè)量痕量元素表面污染(Na - U) 將繪圖速度提高約 3 倍 E9 原子/cm2 的檢測(cè)極限 | |
技術(shù) | 高靈敏度金屬污染分析 | |
主要部件 | 3 探測(cè)器配置 高功率 W 對(duì)陰極 X 射線源(9 kW 旋轉(zhuǎn)對(duì)陰極) 針對(duì)輕元素、過(guò)渡元素和重元素優(yōu)化的 3 種激發(fā)能量 XYθ 樣品臺(tái) 2 個(gè) FOUP 裝載端口 | |
特征 | 全晶圓映射 (SWEEPING-TXRF)、零邊緣排除 (ZEE-TXRF) | |
選項(xiàng) | 背面分析 (BAC-TXRF)、GEM300 軟件、E84/OHT 支持 | |
機(jī)身尺寸 | 1280(寬)×3750(深)×2040(高) (不含監(jiān)視器和信號(hào)塔) | |
測(cè)量結(jié)果 | 定量結(jié)果、光譜圖、彩色等高線圖、映射表 |
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