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當前位置：深圳秋山工業(yè)設備有限公司>>光學器件>>測量儀>> TSS-5X-3日本Japansensor發(fā)射測量儀用于半導體/核電
產(chǎn)品型號TSS-5X-3
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地深圳市
更新時間：2024-10-13 11:55:42瀏覽次數(shù)：310次
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| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,電子,電氣,綜合 |
|---|
日本Japansensor發(fā)射測量儀用于半導體/核電 TSS-5X-3 特點介紹
使用發(fā)射率測量儀TSS-5X-3，您可以輕松測量樣品在室溫下的發(fā)射率。
發(fā)射率值以數(shù)字方式顯示，方便查看，操作簡單。
量化材料表面處理的細微差別
TSS-5X-3 可讓您輕松測量室溫下的發(fā)射率。
樣品的發(fā)射率以數(shù)字方式顯示，方便查看，操作方便。
它被應用于從研發(fā)到大規(guī)模生產(chǎn)線的廣泛領(lǐng)域，包括空間、半導體和核電。
TSS-5X-2 已更新為 TSS-5X-3。
日本Japansensor發(fā)射測量儀用于半導體/核電 TSS-5X-3 規(guī)格參數(shù)
量化材料表面處理的細微差別
通過了解發(fā)射率，您可以提高加熱設備的輻射效率，設計強調(diào)散熱和隔熱的材料，還可以用于節(jié)省能源。
TSS-5X-3使用兩種類型的參考件（發(fā)射率0.06和0.97），其參考發(fā)射率是預先已知的，并且可以在室溫下輕松測量，無需加熱樣品。
它被應用于從研發(fā)到大規(guī)模生產(chǎn)線的廣泛領(lǐng)域，包括空間、半導體和核電。
模型TSS-5X-3
測量方法使用紅外檢測的反射能量測量方法
測量波長2～22μm
測量范圍發(fā)射率：0.00-1.00
準確率評估滿量程的 ±1%
測量面積Φ15mm
測量距離12mm（檢測頭柱固定）
樣品溫度10-40℃（室溫）
測量值顯示LED數(shù)字顯示（顯示至小數(shù)點后第二位）
輸出0-0.1V、0-1V、滿量程
工作溫度/濕度范圍10~45℃/35~85℃（無凝結(jié)）
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