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當前位置：深圳秋山工業(yè)設備有限公司>>光學儀表>>光源>> AQA5500P/AQB5500P日本Anritsu光學傳感裝置波長掃頻激光光源
產(chǎn)品型號AQA5500P/AQB5500P
品 牌Anritsu/安立
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地深圳市
更新時間：2024-10-12 15:01:56瀏覽次數(shù)：210次
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| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應用領域 | 環(huán)保,能源,電子,電氣,綜合 |
|---|
日本Anritsu光學傳感裝置波長掃頻激光光源 Anritsu/安立 AQA5500P/AQB5500P 特點介紹
波長掃頻光源（Wavelength Swept Light Source、波長掃頻激光光源、波長掃頻光源）是產(chǎn)生波長連續(xù)變化的激光的光源。
它適用于使用 OFDR（光頻域反射計）進行形狀測量和位移測量，OFDR 是一種利用激光相干性的光學測量方法。
OFDR 方法也被廣泛稱為 FMCW（調(diào)頻連續(xù)波）方法。
波長掃頻光源用作精密厚度測量、振動測量、表面檢查、工業(yè)OCT（工業(yè)OCT）等工業(yè)應用、眼科OCT和血管內(nèi)OCT等醫(yī)療應用以及位移/波動測量等工業(yè)應用的傳感光源。
它應用于廣泛的領域，包括基礎設施/工廠測量應用、長度測量領域等。
安立的波長掃描光源可以連續(xù)掃描具有窄線寬的單縱模波長，同時抑制模式跳躍，從而產(chǎn)生高度相干的波長掃描光。
通過使用這種波長掃頻光源，您可以以更高的精度測量更寬的距離范圍。
安立的波長掃描光源通過的光學布置改進了一般的利特曼布置，使其可以利用MEMS掃描鏡實現(xiàn)高速波長掃描。
在該光學系統(tǒng)中，從有效腔端面到MEMS掃描鏡的反射面構造了一個外腔，并且在由腔長決定的多個縱模中，衍射光柵的波長選擇性允許被設計成這樣僅選擇一種模式并振蕩。
日本Anritsu光學傳感裝置波長掃頻激光光源 Anritsu/安立 AQA5500P/AQB5500P 規(guī)格參數(shù)
精密厚度測量
光學零件厚度測量：玻璃、鏡片等透明物體的厚度測量
薄膜和鋼板的厚度測量和表面粗糙度測量
半導體晶圓厚度測量
振動測量
旋轉(zhuǎn)體振幅的測量：鉆頭、圓盤等偏心率、表面跳動的測量。
振動體的幅寬測量和頻率測量：揚聲器等。
表面檢查
工件毛刺、劃痕的檢查
測量焊料表面的微小凹凸不平
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