目錄:上海賽可檢測設(shè)備有限公司>>X-Ray檢測設(shè)備>> 賽可(SEC)X-RAY檢測設(shè)備X-eye NF120 Series
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,制藥 |
賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備X-eye NF120 Series簡介：
該檢測設(shè)備搭載200納米的Nano-focus Tube，廣泛應(yīng)用于要求檢測Sub-micron單位不良的半導(dǎo)體封裝及Waffer level packaging（WLP)領(lǐng)域里。通過大理石平臺和各個高精度驅(qū)動軸，可以更加精準(zhǔn)的找到不良部位并且正確的分析不良問題。添加3D CT模塊可進(jìn)行斷層分析，通過搭載Waffer handle(EFEM)裝置可自動裝卸Waffer，自動檢測，實現(xiàn)Full Auto全自動檢測的設(shè)備。
賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備X-eye NF120 Series特點：
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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