費(fèi)舍爾涂層測(cè)厚儀Deltascope FMP30

費(fèi)舍爾涂層測(cè)厚儀Deltascope FMP30

DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測(cè)厚儀適合于需要一款獨(dú)立的儀器帶全部測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，輸出和打印功能的使用者。DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測(cè)厚儀能存儲(chǔ)多達(dá)100個(gè)應(yīng)用程式中1,000個(gè)數(shù)據(jù)組中的10,000個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)。除了一些常用的統(tǒng)計(jì)參數(shù)以外，DELTASCOPE FMP30涂層測(cè)厚儀還具有打印柱狀圖，正態(tài)分布圖表，以及Cp和 Cpk指標(biāo)的功能。另外，每一個(gè)測(cè)量組都帶日期和時(shí)間顯示和存儲(chǔ)。
DELTASCOPE FMP30涂層測(cè)厚儀配備有一個(gè)的和便于讀取的60 x 30 mm (2.4" x 1.2")液晶顯示器。大量顯示的信息使得操作異常簡便，包括單個(gè)測(cè)量讀數(shù)，測(cè)量次數(shù)，應(yīng)用程式號(hào)，組號(hào)，統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，Cp和 Cpk，產(chǎn)品規(guī)格限制超出，日期，時(shí)間，以及顯示操作模式和設(shè)置的圖標(biāo)和符號(hào)，2行文本各16個(gè)字母或可自由選擇的符號(hào)以用于顯示數(shù)據(jù)和操作員提示。

德國Fischer ISOSCOPE FMP30膜厚儀具有打印柱狀圖，正態(tài)分布圖表，以及Cp和 Cpk指標(biāo)的功能。
自動(dòng)的求平均功能降低了測(cè)量數(shù)據(jù)范圍內(nèi)的表面粗糙度影響。探頭自動(dòng)識(shí)別。
應(yīng)用程式特定的校準(zhǔn)參數(shù)儲(chǔ)存在測(cè)量探頭中，因此儀器一旦連接了任何探頭都能立即進(jìn)行測(cè)量。

FISCHERSCOPE XDL-B是一款基于Windows的鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測(cè)量方向從上往下。 XDL-B 的特色是*的距離修正方法。DCM方法（距離控制測(cè)量）自動(dòng)地修正在不同的測(cè)量距離上光譜強(qiáng)度的差別。對(duì)于XDL-B 帶測(cè)量距離固定的X-射線頭，這一特性提供了能在復(fù)雜幾何外形的測(cè)試工件和不同測(cè)量距離上實(shí)現(xiàn)簡便測(cè)量的可能性。特別針對(duì)微波腔體之類樣品的底部鍍層厚度進(jìn)行測(cè)量。