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二手電鏡+在售 日立超高分辨率電子顯微鏡超高分辨率的顯微分析對(duì)設(shè)備有特殊的要求，以便可以得到新的信息及展現(xiàn)納米世界的秘密。S- 5500*可以滿(mǎn)足這些需要。

電子光學(xué)

電子槍:冷場(chǎng)發(fā)射電子源

透鏡系統(tǒng): 3級(jí)電磁透鏡 系統(tǒng)

物鏡光欄:可變型(4孔可選，在真空系統(tǒng)外進(jìn)行微調(diào)，100-50- 50-30um)

消像散線(xiàn)圈:八極電磁線(xiàn)圈系統(tǒng)

掃描線(xiàn)圈: 2級(jí) 電磁偏轉(zhuǎn)線(xiàn)圈(高倍模式) ; 1級(jí)電磁線(xiàn)圈(低倍模式)

電子束遮擋:靜電型(與掃描線(xiàn)圈同步)

二手電鏡+在售 日立超高分辨率電子顯微鏡可以保證0.4nm的超高分辨率，從而獲得新的信息并展現(xiàn)納米世界的秘密。

主要特點(diǎn):

1.新型的物鏡設(shè)計(jì)可以使其達(dá)到高分辨率: 0.4nm(30kV)。

2.保證分辨率為0.4nm (30kV), 1.6nm (1kV)。

3. Hitachi的技術(shù)ExB可以讓操作者優(yōu)化圖像中SE和BSE信號(hào)的比例

4.新開(kāi)發(fā)的BF/DF雙STEM檢測(cè)器可以同時(shí)顯示BF像及DF像。在DF STEM模式中還可以改變檢測(cè)角度。

5.電子光學(xué)系統(tǒng)的改進(jìn)可以不用改變樣品位置而同時(shí)進(jìn)行EDS分析及形貌觀(guān)察。

6.可以使用與FIB兼容的樣品桿。

7.Cold trap可以實(shí)現(xiàn)在超低電壓下抑制樣品"碳污染"，提升低加速電壓下的圖像分辨串。