首頁(yè) >> 公司動(dòng)態(tài) >> 一圖讀懂！與您相約“顆粒、粉體、膜（P3）分析與表征技術(shù)研討會(huì)”
材料表征領(lǐng)域Micromeritics麥克儀器公司將舉辦《顆粒、粉體、膜（P3）的分析與表征技術(shù)研討會(huì)》，分享及時(shí)材料表征技術(shù)及實(shí)際應(yīng)用，為用戶的材料分析與表征提供完整性解決方案。誠(chéng)摯邀請(qǐng)您出席本次研討會(huì)！
時(shí)間：2019年9月19日全天
地點(diǎn)：上海大華錦繡假日酒店
費(fèi)用：免費(fèi)
內(nèi)容：
顆粒、粉體、膜的特性與綜述；
顆粒粒度分析：電阻法，X沉降法與亞篩分法
顆粒形態(tài)分析：動(dòng)態(tài)圖像法
顆粒粉體分析的樣品制備：取樣，縮樣與分散
孔徑分析：氣液與液液孔徑分析方法
粉體流動(dòng)性分析
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