許多微孔材料（例如分子篩，活性炭等。）在進行自由空間測量時，由于
暴露在He 氣中幾個小時，會將He 捕捉并保存在它們復(fù)雜的孔結(jié)構(gòu)中，zui終
影響到分析低壓區(qū)數(shù)據(jù)，在低壓區(qū)出現(xiàn)S 型曲線。本文針對這種情況，給出
了相應(yīng)的解決方案，不僅羅列出相應(yīng)的注意事項和需要采用的工具，還詳細
的描述了測試文件如何編輯和選擇，并進行了舉例說明。
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