SediGraph 粒度儀采用柔軟的 X 射線檢測(cè)顆粒的相對(duì)濃度,它的主要原理是利用顆粒對(duì) X 射線的吸收量,正比于顆粒質(zhì)量。
X 射線無論何時(shí)都無法照射到儀器的操作者,做到此取決于儀器內(nèi)部的設(shè)計(jì):測(cè)量室門的密封和開閉特性。 一個(gè)機(jī)械快門機(jī)構(gòu),當(dāng)門被輕微打開 12 毫米時(shí),立刻會(huì)激發(fā)機(jī)械快門遮擋住 X 射線進(jìn)入測(cè)量室;同時(shí)儀器裝配的若干電子自鎖機(jī)構(gòu),用于切斷 X 射線源的供電。每當(dāng)測(cè)量室門,儀器蓋板被打開時(shí),立刻發(fā)揮作用。
提供商 |
麥克默瑞提克（上海）儀器有限公司 | 下載次數(shù) |
97次 |
資料大小 |
223.8KB | 資料類型 |
PDF 文件 |
資料圖片 |
-- | 瀏覽次數(shù) |
125次 |
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
13
立即詢價(jià)
您提交后，專屬客服將第一時(shí)間為您服務(wù)