CEM3000系列超清掃描電鏡在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價(jià)值，標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能滿足用戶對(duì)多類型樣品的觀測(cè)需求，實(shí)現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。

其抗振設(shè)計(jì)，在充滿機(jī)械振動(dòng)和噪音的工業(yè)環(huán)境中依舊穩(wěn)如泰山，拍攝出清晰、高分辨率的圖像。不管是高樓的實(shí)驗(yàn)室，還是有一定振動(dòng)的生產(chǎn)車間等非常規(guī)電鏡使用環(huán)境，CEM3000系列臺(tái)式電鏡都可憑借其強(qiáng)大的抗振性能輕松應(yīng)對(duì)，大展身手。

性能特色

1.高易用性快速成像、一鍵成片，無需過多人工調(diào)節(jié)。

2.超高分辨率優(yōu)于4nm(SE)，優(yōu)于8nm(BSE)@20kV。

3.超大景深毫米級(jí)別景深，具有高空間分辨率。

4.多探測(cè)器可實(shí)現(xiàn)四分窗同時(shí)掃描成像。

5.抗振性能優(yōu)異。

產(chǎn)品功能

1）臺(tái)式電鏡緊湊的外型，CEM3000系列臺(tái)式掃描電鏡能夠不受場(chǎng)地尺寸制約，真正做到了空間適用性，用戶甚至可以將其就近擺放在自己的桌面上。同時(shí)CEM3000也能根據(jù)用戶需求，輕松移機(jī)，一臺(tái)機(jī)器多處開花；

2）高分辨率，能夠?qū)ξ⒊叽缣卣鬟M(jìn)行觀測(cè)分析，滿足用戶的觀測(cè)需求；

3）快速抽放氣，憑借真空系統(tǒng)設(shè)計(jì)，該系列臺(tái)式電鏡縮短了用戶抽放氣的等待時(shí)間；

4）高易用性，能夠快速成像、一鍵出片，用戶使用自動(dòng)調(diào)節(jié)功能，無需過多人工操作，就可得到高質(zhì)量拍攝圖片；

5）大樣品倉(cāng)，CEM3000A在保證較小外型尺寸同時(shí)，具有比肩立式電鏡的大倉(cāng)室，從而容納更大尺寸樣品；

6）高抗振防磁性能，全系列電鏡均具有優(yōu)秀的抗干擾能力，特別是CEM3000B使用本公司技術(shù)，基于復(fù)合抗振手段，將掃描電鏡抗振性能提升到了新的高度；

7）可選配低真空模式，保證用戶能夠根據(jù)需要設(shè)定電鏡樣品倉(cāng)內(nèi)真空度，進(jìn)而對(duì)不同類型的樣品進(jìn)行觀測(cè)；

8）能夠提供多種成像參數(shù)供用戶選擇，滿足專業(yè)用戶的調(diào)節(jié)需求；

9）搭配有多種探頭，能夠?qū)悠愤M(jìn)行多種手段的分析。

CEM3000系列超清掃描電鏡共涵蓋CEM3000A（大樣品倉(cāng)型）和CEM3000B（抗振型）兩款強(qiáng)化機(jī)型，CEM3000A在不改變整機(jī)外觀尺寸的情況下，拓展了樣品倉(cāng)尺寸，從而可對(duì)大尺寸樣品或多個(gè)常規(guī)尺寸樣品進(jìn)行分析。同時(shí)，用戶也可選擇加裝有減振倉(cāng)的CEM3000B，確保在縮短抽放氣時(shí)間的同時(shí)，消除環(huán)境振動(dòng)對(duì)電鏡的影響，保證了高倍數(shù)成像時(shí)的圖像質(zhì)量。此外，該系列電鏡也可通過加裝各類探頭和附件，滿足用戶的拓展性需求，這使其在材料科學(xué)、生命科學(xué)、納米技術(shù)、能源等多個(gè)領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。

應(yīng)用領(lǐng)域

該電鏡外型緊湊，空間適用性強(qiáng)，整機(jī)采用大量的抗干擾設(shè)計(jì)，避免使用環(huán)境造成的影響，拓寬了應(yīng)用范圍。同時(shí)，該系列臺(tái)式電鏡具有非常豐富的自動(dòng)調(diào)節(jié)功能，能夠?qū)Σ煌愋偷臉悠愤M(jìn)行觀測(cè)，具有高空間分辨率。

用戶可在CEM3000系列臺(tái)式掃描電鏡上搭配不同的探頭，同時(shí)接收多種信號(hào)，對(duì)樣品進(jìn)行分析。

應(yīng)用范例：

部分技術(shù)指標(biāo)

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