價格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 場發(fā)射 |
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應用領域 | 電子 |
日立HT7700 : 數字一體化的TEM操作平臺,操作簡便的通用性設計
HT7700優(yōu)異的高反差、高分辨圖像觀察與強大的分析擴展功能,可為生物醫(yī)學、醫(yī)藥、食品、農業(yè)、高分子、化學、納米材料等多領域提供*的TEM解決方案。
![]() | 似空科學儀器(上海)有限公司 |
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參考價 | 面議 |
具體成交價以合同協(xié)議為準 |
更新時間:2023/05/24 07:32:28瀏覽次數:3424
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熒光屏相機和CCD主相機
可在明亮的環(huán)境下操作透射電鏡,在顯示器上直接觀測熒光屏相機的圖像,方便尋找目標樣品。
目標區(qū)域高速自動回溯功能
所有拍攝的圖片將全部保存在圖像數據庫中,并以縮略圖方式顯示,每張縮略圖均包含所有圖像的屬性信息。點擊任意一張縮略圖,并選擇“Auto drive”,樣品臺將自動回溯到此圖像拍攝時的位置。
全視野圖像導航(Whole View)和軌跡記錄功能
全視野圖像導航功能(Whole View),可以直接獲取微柵全景圖,便于更加直觀地進行圖像導航。軌跡記錄功能可標示樣品臺的移動軌跡。樣品臺記憶功能可保存多達 100 個坐標, 并可自動移動至坐標位置。
自動預輻照功能 (Auto Pre-Irradiation,API)
自動預輻照功能(API)可快速穩(wěn)定樣品,防止漂移,尤其對觀測電子束敏感的樣品或不穩(wěn)定的樣品有極大幫助。自動預輻照有多種操作模式(全景式掃描(Whole Scan)、邊框式掃描(Frame Scan)、區(qū)域式掃描(Area Scan))。用戶可選擇單種或多種模式組合,以達到*預輻照效果。
觀測區(qū)域的損傷痕跡(左),通過使用API 功能后,損傷痕跡可基本消除(右)。 API 功能可有效減少觀測過程中的樣品損傷和樣品漂移。
自動漂移校正功能
樣品觀測時,由于樣品臺移動慣性或局部熱脹冷縮,可能會導致樣品漂移。自動漂移校正功能可對漂移量進行檢測 并給予校正。通過自動漂移校正功能,在各種觀察條件下均可獲取高清晰圖像。
自動拼圖功能可獲取高像素的大視野圖像
雙隙物鏡
三維重構功能(選配)
HT7700的馬達臺具有很高的穩(wěn)定性,其自動傾斜角度可達±70 °,結合日立*的重構算法——包含TBR (Topography Based Reconstruction) 等多種重構算法——可獲得高精度的三維重構結果。
雙軸三維重構(選配)
將樣品沿著α-β雙軸方向傾轉獲得的圖像結合起來,采用日立*的重構軟件進行處理,可以獲得誤差更小、更精確的三維重構形貌圖。
掃描透射觀察設備(STEM)(選配)
明場(BF) 和暗場(DF) 檢測器可以安裝在HT7700上對樣品進行STEM 分析。在BF-STEM 模式下色差系數減小,可以獲得清晰的高襯度圖像。高靈敏度的DF-STEM 檢測器,可高效檢測到散射電子,提高樣品Z 襯度。配合能譜EDX使用,可同時獲得多種元素的成分面分布圖。
高分辨透鏡EXALENS (選配)
EXALENS 是為HT7700設計的新型物鏡,低球差的高分辨透鏡EXALENS,分辨率可達0.144 nm(晶格像、加速電壓120 kV)。 EXALENS在較低的加速電壓下仍可進行低損傷、高分辨成像,特別適用于軟材料、碳材料和高分子材料等領域的研究。
滿足不同應用需求的多種樣品桿(選配)
根據不同的需求,用戶不僅可以選擇日立自主研發(fā)的各種功能的樣品桿(下圖所示),而且還可以選用其他廠商制造的冷凍,加熱,原位等多種樣品桿產品。
透射電子顯微鏡 HT7700規(guī)格
項目 | 說明 | |
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分辨率(晶格像) | 0.204 nm (100 kV) [EXALENS為0.144 nm(120 kV):選配件] (的相機上保證分辨率) | |
放大倍數 | 變焦 | ×200 - ×200,000 (高對比度模式) ×4,000 - ×600,000 (高分辨率模式) (無圖像旋轉) [×200 - ×300,000 (高對比度模式) ×2,000 - ×800,000 (高分辨率模式) for EXALENS:選配件] |
低倍率模式 | ×50 - ×1,000 | |
加速電壓 | 40 - 120 kV (zui小100 V/步長 可變) | |
樣品臺 | 優(yōu)中心測角馬達臺 | |
主相機 | 800萬像素(縱橫比 = 3 : 4) 也可安裝其他照相機。 |
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