高低溫試驗(yàn)箱 冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)

設(shè)備安裝及環(huán)境條件：

1、室溫：≤+25℃

2、相對(duì)濕度：不大于85%R·H

3、大氣壓：86～106kPa

4、周圍無強(qiáng)烈振動(dòng)

5、無陽光直接照射或其他熱源直接輻射

6、周圍無強(qiáng)烈氣流，當(dāng)周圍空氣需強(qiáng)烈流動(dòng)時(shí)，氣流不應(yīng)直接吹到箱體上

7、周圍無強(qiáng)電磁場影響

高低溫試驗(yàn)箱 冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)

本設(shè)備滿足：

1、 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)：國家相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求或雙方簽訂《技術(shù)參數(shù)協(xié)議書》

2、GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
3、GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
4、GB10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
5、GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
6、GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
7、GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備
8、GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法
9、GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
10、GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
11、GB2423.3-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法
12、GB2423.4-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法
13、GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則